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Volumn 476, Issue , 1997, Pages 177-182

Low-k dielectric integration cost modeling

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CHEMICAL POLISHING; DEPOSITION; LITHOGRAPHY; MATHEMATICAL MODELS; METALLIZING; ULSI CIRCUITS;

EID: 0031355335     PISSN: 02729172     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1557/proc-476-177     Document Type: Conference Paper
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References (9)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.