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Volumn 1, Issue , 1997, Pages 317-322

High temperature testing of a buck converter using silicon and silicon carbide diodes

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MOSFET DEVICES; SCHOTTKY BARRIER DIODES; SEMICONDUCTOR DIODES; SILICON CARBIDE; THERMAL EFFECTS;

EID: 0031345350     PISSN: 0146955X     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.