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Volumn 2, Issue , 1997, Pages 994-999

Integrated single and two-phase micro heat sinks under IGBT chips

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BIPOLAR TRANSISTORS; COOLANTS; FLUOROCARBONS; GATES (TRANSISTOR); INTEGRATED CIRCUIT TESTING;

EID: 0031340505     PISSN: 01972618     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.