Electric Fields and Interference Effects inside Noncentrosymmetric Multilayer Films at Electrode Surfaces from Electrochemically Modulated Surface Plasmon Resonance Experiments

Analytical Chemistry

Volumn 69, Issue 18, 1997, Pages 3665-3673

  Hanken, Dennis G ^a   Corn, Robert M ^a  

^a UNIVERSITY OF WISCONSIN MADISON   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTRIC FIELD EFFECTS; ELECTROCHEMICAL ELECTRODES; ELECTROMAGNETIC WAVE INTERFERENCE; ELECTROOPTICAL EFFECTS; GOLD; NONLINEAR OPTICS; REFRACTIVE INDEX; SURFACE PHENOMENA; ULTRATHIN FILMS; ZIRCONIUM COMPOUNDS;

ELECTRIC FIELD STRENGTH; NONCENTROSYMMETRIC MULTILAYER FILMS; POCKEL EFFECT; SURFACE PLASMON RESONANCE; ZIRCONIUM PHOSPHONATE;

MULTILAYERS;

EID: 0031237215     PISSN: 00032700     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ac970208b     Document Type: Article

References (46)

1. Bard, A. J.; Faulkner, L. R. Electrochemical Methods; J. Wiley: New York, 1980.
2. Finklea, H. O. In Electroanalytical Chemistry: A series of Advances; Bard, A. J., Rubinstein, I., Eds.; Marcel Dekker, Inc.: New York, 1996; Vol. 19, pp 109.
3. Smith, C. P.; White, H. S. Anal. Chem. 1992, 64, 2398.
4. Smith, C. P.; White, H. S. Langmuir 1993, 9, 1.
5. Fawcett, W. R.; Fedurco, M.; Kovacova, Z. Langmuir 1994, 10, 2403.
6. Fawcett, W. R. J. Electroanal. Chem. 1994, 378, 117.
7. Schmidt, P. H.; Plieth, W. J. J. Electroanal. Chem. 1986, 201, 163.
8. Widrig, C. A.; Chung, C.; Porter, M. D. J. Electroanal. Chem. 1991, 201, 335.
9. Pope, J. M.; Tan, Z.; Kimbrell, S.; Buttry, D. A. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 10085.
10. Pope, J. M.; Buttry, D. A. Private Communication.
11. Lockhart, D. J.; Boxer, S. G. Chem. Phys. Lett. 1988, 144, 243.
12. Lockhart, D. J.; Kirmaier, C.; Holten, D.; Boxer, S. G. J. Phys. Chem. 1990, 94, 6987.
13. Creager, S. E.; Weber, K. Langmuir 1993, 9, 844.
14. Rowe, G. K.; Creager, S. E. J. Phys. Chem. 1994, 98, 5500.
15. Gao, X; White, H. S.; Chen, S.; Abruna, H. D. Langmuir 1995, 11, 4554.
16. Hanken, D. G.; Naujok, R. R.; Gray, J. M.; Com, R. M. Anal. Chem. 1997, 69, 240.
17. Burstein, E.; Chen, W. P.; Chen, Y. J.; Hartstein, A. J. Vac. Sci. Technol 1974, 11, 1004.
18. Raether, H. Physics of Thin Films; Academic: New York, 1977; Vol. 9, pp 145.
19. Gordon, J. G.; Swalen, J. D. Opt. Commun. 1977, 22, 374-376.
20. Swalen, J. D.; Gordon, J. G.; Philpott, M. R.; Brillante, A.; Pockrand, I.; Santo, R. Am. J. Phys. 1980, 48, 669.
21. Pockrand, I.; Swalen, J. D.; Gordon, J. G.; Philpott, M. R. Surf. Sci. 1977, 74, 237.
22. Shen, Y. R. The Principles of Nonlinear Optics; Wiley: New York, 1984.
23. Putvinski, T. M.: Schilling, M. L.; Katz, H. E.; Chidsey, C. E. D.; Mujsce, A. M.; Emerson, A. B. Langmuir 1990, 6, 1567.
24. Katz, H. E.; Scheller, G.; Putvinski, T. M.; Schilling, M. L.; Wilson, W. L.; Chidsey, C. E. D. Science 1991, 254, 1485.
25. Katz, H. E. Chem. Mater. 1994, 6, 2227.
26. Katz, H. E.; Wilson, W. L.; Scheller, G. J. Am. Chem. Soc. 1994, 116, 6636.
27. Hanken, D. G.; Corn, R. M. Isr. J. Chem., in press.
28. Frey, B. L.; Hanken, D. G.; Corn, R, M. Langmuir 1993, 9, 1815.
29. Green, M. J.; Barner, B. J.; Corn, R. M. Rev. Sci. Instrum. 1991, 62, 1426.
30. Barner, B. J.; Green, M. J.; Saez, E. I.; Corn, R. M. Anal. Chem. 1991, 63, 55.
31. Jordan, C. E.; Frey, B. L.; Kornguth, S.; Corn, R. M. Langmuir 1994, 10, 3642.
32. Hanken, D. G.; Corn, R. M. Anal. Chem. 1995, 67, 3767.
33. Frey, B. L.; Jordan, C. E.; Kornguth, S.; Corn, R. M. Anal. Chem. 1995, 67, 4452.
34. Frey, B. L.; Com, R. M. Anal. Chem. 1996, 68, 3193.
35. Cross, G. H.; Girling, I. R.; Peterson, I. R.; Cade, N. A.; Earls, J. D. Electron. Lett. 1986, 22, 1111.
36. Cross, G. H.; Girling, I. R.; Peterson, I. R.; Cade, N. A.; Earls, J. D. J. Opt. Sac. Am. B 1987, 4, 962.
37. Sekkat, Z.; Kang, C.-S.; Aust, E. F.; Wegner, G.; Knoll, W. Chem. Mater. 1995, 7, 142.
38. Kepley, L. J.; Sackett, D. D.; Bell, C. M.; Mallouk, T. E. Thin Solid Films 1992, 132.
39. Katz, H. E.; Schilling, M. L. Chem. Mater. 1993, 5, 1162.
40. Evans, S. D.; Ulman, A. Chem. Phys. Lett. 1990, 170, 462.
41. Becka, A. M.; Miller, C. J. J. Phys. Chem. 1993, 97, 6233.
42. Singer, K. D.; Kuzyk, M. G.; Sohn, J. E. J. Opt. Soc. Am. B 1987, 4, 968.
43. Robello, D. R.; Dao, P. T.; Phelan, J.; Revelli, J.; Schildkraut J. S.; Scozzafava, M.; Ulman, A; Willand, C. S. Chem. Mater. 1992, 4, 425.
44. Robello, D. R.; Dao, P. T.; Schildkraut, J. S.; Scozzafava, M.; Urankar, E. J.; Willand, C. S. Chem. Mater. 1995, 7, 284.
45. Corn, R. M.; Higgins, D. A. Chem. Rev. 1994, 94, 107.
46. Higgins, D. A.; Naujok, R. R.; Corn, R. M. Chem. Phys. Lett. 1993, 213, 485.