Photoreflectance spectroscopy of low-dimensional GaAs/AlGaAs structures

Advanced Materials for Optics and Electronics

Volumn 7, Issue 5, 1997, Pages 241-247

  Sek G ^a   Misiewicz, J ^a   Cheng, T S ^b  

^a WROCLAW UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Poland)

^b UNIVERSITY OF NOTTINGHAM   (United Kingdom)

Author keywords

AlGaAs; GaAs; Low dimensional structure; Photoreflectance

Indexed keywords

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS; LIGHT REFLECTION; SEMICONDUCTING ALUMINUM COMPOUNDS; SEMICONDUCTOR QUANTUM WELLS;

LOW-DIMENSIONAL STRUCTURE;

SEMICONDUCTING GALLIUM ARSENIDE;

EID: 0031220951     PISSN: 10579257     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/(SICI)1099-0712(199709)7:5<241::AID-AMO312>3.0.CO;2-K     Document Type: Article

References (18)

1. F. H. Pollak and O. J. Glembocki, Proc. SPIE, 1988, 946, 2-35.
2. F. H. Pollak, Proc. SPIE, 1990, 1361, 109-130.
3. O. J. Glembocki, J. A. Dagata, E. S. Snow and D. S. Katzer, Appl. Surf. Sci., 1993, 63, 143-152.
4. F. H. Pollak, Hoa Quiang, Dong Yan, Yichum Yin and D. S. Boccio, Photonics Spectra, 1993, 27, 78-84.
5. K. Jezierski, P. Markiewicz, J. Misiewicz, M. Panek, B. Ściana, R. Korbutowicz and M. Tłaczała, J. Appl. Phys., 1995, 77, 4139-4143.
6. J. Misiewicz, K. Jezierski, P. Sitarek, P. Markiewicz, R. Korbutowicz, M. Panek, B. Ściana and M. Tłaczała, Proc. SPIE, 1995, 2397, 156-165.
7. J. Misiewicz, G. Sȩk, M. Ciorga, P. Sitarek, M. Kaniewska, K. Regiński and J. Muszalski, Electron Technol., 1996, 29, 139-142.
8. O. Seraphin and N. Bottka, Phys. Rev., 1966, 145, 628-636.
9. D. E. Aspnes, Surf. Sci., 1973, 37, 418-442.
10. J. Misiewicz, K. Jezierski, P. Sitarek, P. Markiewicz, R. Korbutowicz, M. Panek, B. Ściana and M. Tłaczała, Adv. Mater. Opt. Electron., 1995, 5, 321-327.
11. M. Lamascolo, R. Cingolani, L. Calcagnile, M. Di Giulio, L. Vasanelli, O. Brandt and K. Ploog, Solid State Commun., 1993, 87, 481-485.
12. S. Adachi, J. Appl. Phys., 1985, 58, R1-R29.
13. G. Bastard, Phys. Rev. B, 1981, 24, 5693-5697.
14. G. Bastard, Phys. Rev. B, 1982, 25, 7584-7597.
15. H. Röppischer, N. Stein, U. Behn and A. B. Novikov, J. Appl. Phys., 1994, 76, 4340-4343.
16. K. Jezierski, J. Misiewicz, P. Sitarek, P. Markiewicz, M. Panek, B. Ściana, M. Tłaczała and R. Korbutowicz, Phys. Status Solidi A, 1995, 147, 467-475.
17. Y. S. Tang, Y. W. Xu, D. S. Jiang, W. H. Zhuang and M. Y. Kong, Superlatt. Microstruct., 1989, 6, 391-394.
18. M. Sydor, N. Jahren, W. C. Mitchel, W. V. Lampert, T. W. Haas, M. Y. Yen, S. M. Mudare and D. H. Tomich, J. Appl. Phys. 1990, 67, 7423-7429.