Tapping scanning force microscopy in air-theory and experiment

Langmuir

Volumn 13, Issue 17, 1997, Pages 4699-4703

  Spatz, Joachim P ^a   Sheiko, Sergei ^a   Möller, Martin ^a   Winkler, Roland G ^a   Reineker, Peter ^a   Marti, Othmar ^a  

^a UNIVERSITY OF ULM   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; BLOCK COPOLYMERS; DEFORMATION; INTERFACES (MATERIALS); PHASE TRANSITIONS; PROBES; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; SURFACE TREATMENT; ULTRATHIN FILMS;

NEUTRALIZATION; POLYSTYRENE CORONA; SCANNING FORCE MICROSCOPY; TAPPING FREQUENCY;

MICELLES;

EID: 0031213474     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la970311w     Document Type: Article

References (21)

1. Martin, Y.; Williams, C. C.; Wickramasinghe, H. G. Appl. Phys. 1987, 61, 4723.
2. Zhong, Q.; Inniss, D.; Elings, V. B. Surf. Sci. 1993, 290, L688.
3. Akari, S.; Horn, D.; Keller, H.; Schrepp, W. Adv. Mater. 1995, 7, 549. Yokoyama, H.; Inoue, T. Thin Solid Films 1994, 33, 242.
4. Akari, S.; Horn, D.; Keller, H.; Schrepp, W. Adv. Mater. 1995, 7, 549. Yokoyama, H.; Inoue, T. Thin Solid Films 1994, 33, 242.
5. Sarid, D. Scanning Force Microscopy With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces; Oxford Series on Optical Sciences; Oxford University Press: New York, 1991.
6. Rosa, A.; Hild, S.; Marti, O. ACS Polym. Preprints 1996, 1, 616.
7. Radmacher, M.; Tillmann, R. W.; Fritz, M.; Gaub, H. E. Science 1992, 257, 1900. Hansma, H. G.; Vesenka, J.; Siegerist, C.; Kelderman, G.; Morrett, H.; Sinsheimer, R. L.; Elings, V.; Bustamante, C.; Hansma, P. K. Science 1992, 256, 1180.
8. Radmacher, M.; Tillmann, R. W.; Fritz, M.; Gaub, H. E. Science 1992, 257, 1900. Hansma, H. G.; Vesenka, J.; Siegerist, C.; Kelderman, G.; Morrett, H.; Sinsheimer, R. L.; Elings, V.; Bustamante, C.; Hansma, P. K. Science 1992, 256, 1180.
9. Spatz, J. P.; Sheiko, S.; Möller, M.; Winkler, R. G.; Reineker, P.; Marti, O. Nanotechnology 1995, 6, 40.
10. Winkler, R. G.; Spatz, J. P.; Sheiko, S.; Möller, M.; Reineker, P.; Marti, O. Phys. Rev. B 1996, 54, 8908.
11. Hoeper, R.; Workman, R. K.; Cheng, D.; Sarid, D.; Yadav, T.; Withers, J. C.; Raouf, O. R. Surf. Sci. 1994, 311, L731. Tamayo, J.; Garcia, R. Langmuir 1996, 12, 4430.
12. Hoeper, R.; Workman, R. K.; Cheng, D.; Sarid, D.; Yadav, T.; Withers, J. C.; Raouf, O. R. Surf. Sci. 1994, 311, L731. Tamayo, J.; Garcia, R. Langmuir 1996, 12, 4430.
13. Magonov, S. N.; Whangbo, M.-H. Surface Analysis with STM and AFM; VCH: Weinheim, 1996.
14. Spatz, J. P.; Roescher, A.; Sheiko, S.; Krausch, G.; Möller, M. Adv. Mater. 1995, 7, 731. Spatz, J. P.; Sheiko, S.; Möller, M. Macromolecules 1996, 29, 3220. Spatz, J. P.; Roescher, A.; Möller, M. Adv. Mater. 1996, 8, 337. Spatz, J. P.; Mössmer, S.; Möller, M. Chem. Eur. J. 1996, 2, 1552.
15. Spatz, J. P.; Roescher, A.; Sheiko, S.; Krausch, G.; Möller, M. Adv. Mater. 1995, 7, 731. Spatz, J. P.; Sheiko, S.; Möller, M. Macromolecules 1996, 29, 3220. Spatz, J. P.; Roescher, A.; Möller, M. Adv. Mater. 1996, 8, 337. Spatz, J. P.; Mössmer, S.; Möller, M. Chem. Eur. J. 1996, 2, 1552.
16. Spatz, J. P.; Roescher, A.; Sheiko, S.; Krausch, G.; Möller, M. Adv. Mater. 1995, 7, 731. Spatz, J. P.; Sheiko, S.; Möller, M. Macromolecules 1996, 29, 3220. Spatz, J. P.; Roescher, A.; Möller, M. Adv. Mater. 1996, 8, 337. Spatz, J. P.; Mössmer, S.; Möller, M. Chem. Eur. J. 1996, 2, 1552.
17. Spatz, J. P.; Roescher, A.; Sheiko, S.; Krausch, G.; Möller, M. Adv. Mater. 1995, 7, 731. Spatz, J. P.; Sheiko, S.; Möller, M. Macromolecules 1996, 29, 3220. Spatz, J. P.; Roescher, A.; Möller, M. Adv. Mater. 1996, 8, 337. Spatz, J. P.; Mössmer, S.; Möller, M. Chem. Eur. J. 1996, 2, 1552.
18. Roescher, A.; Möller, M. Adv. Mater. 1995, 7, 151.
19. Anczykowski, B.; Krüger, D.; Fuchs, H. Phys. Rev. B 1996, 53, 15485.
20. Burnham, N. A.; Behrend, O.P.; Oulevey, F.; Gremaud, G.; Gallo, P.-J.; Gourdon, D.; Dupas, E.; Kulik, A. J.; Pollock, H. M.; Briggs, G. A. D. Nanotechnology, 1997, in press.
21. Chen, J.; Workman, R. K.; Sarid, D.; Höper, R. Nanotechnology 1994, 5, 199.