Short-pulse, extreme-ultraviolet continuum emission from a table-too laser plasma light source

Applied Physics Letters

Volumn 70, Issue 12, 1997, Pages 1497-1499

  Meighan, O ^a   Gray, A ^a   Mosnier, J P ^a   Whitty, W ^a   Costello, J T ^a   Lewis, C L S ^b   MacPhee, A ^b   Allott, R ^c   Turcu, I C E ^c   Lamb, A ^c  

^a DUBLIN CITY UNIVERSITY   (Ireland)

^b QUEEN'S UNIVERSITY BELFAST   (United Kingdom)

^c RUTHERFORD APPLETON LABORATORY   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CAMERAS; CHARGE COUPLED DEVICES; DIFFRACTION GRATINGS; GOLD; IRRADIATION; LASER PULSES; LEAD; LIGHT EMISSION; OPTICAL RESOLVING POWER; SAMARIUM; SPECTROSCOPY; ULTRAVIOLET RADIATION;

DISPERSIVE SPECTROSCOPY; EXTREME ULTRAVIOLET CONTINUUM EMISSION; HIGH ATOMIC NUMBER ELEMENTS; STREAK CAMERA; TABLE TOP LASER PLASMA LIGHT SOURCE;

LASER PRODUCED PLASMAS;

EID: 0031100058     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.118364     Document Type: Article

References (33)

1. C. B. Darrow, C. Coverdale, M. D. Perry, W. B. Mori, C. Clayton, K. Marsh, and C. Joshi, Phys. Rev. Lett. 69, 442 (1992).
2. J. D. Kmetec, C. L. Gordon III, J. J. Macklin, B. E. Lemoff, G. S. Brown, and S. E. Harris, Phys. Rev. Lett. 68, 1527 (1992).
3. J. J. Macklin, J. D. Kmetec, and C. L. Gordon, III, Phys. Rev. Lett. 70, 766 (1993).
4. H. Hamster, A. Sullivan, S. Gordon, W. White, and R. W. Falcone, Phys. Rev. Lett. 71, 2725 (1993).
5. A. Modena, Z. Najmudin, A. E. Dangor, C. E. Clayton, K. A. Marsh, C. Joshi, J. Malka, C. B. Darrow, C. Danson, D. Neely, and F. N. Walsh, Nature (London) 377, 606 (1995).
6. M. M. Murnane, H. C. Kapteyn, and R. W. Falcone, Phys. Rev. Lett. 62, 155 (1989).
7. B. Soom, H. Chen, Y. Fisher, and D. D. Meyerhofer, J. Appl. Phys. 74, 5372 (1993).
8. D. Umstadter, X. Liu, and J. Workman, Proc. SPIE 1860, 80 (1993).
9. I. C. E. Turcu, I. N. Ross, and G. J. Tallents, Appl. Phys. Lett. 63, 3046 (1993).
10. J. F. Pelletier, M. Chaker, Y. Beaudoin, C. Y. Côté, and J. C. Kieffer, Proc. SPIE 2041, 222 (1994).
11. P. Audebert, J. P. Geindre, A. Rouse, F. Falliès, J. C. Gauthier, A. Mysyrowicz, G. Grillon, and A. Antonetti, J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys. 27, 3303 (1994).
12. R. Shepherd, R. Booth, D. Price, M. Bowers, D. Swan, J. Bonlie, B. Young, J. Dunn, B. White, and R. Stewart, Rev. Sci. Instrum. 66, 719 (1995).
13. G. T. Schappert, J. A. Cobble, R. D. Fulton, G. A. Kyrala, G. L. Olson, and A. J. Taylor, AIP Conf. Proc. 318, 97 (1994).
14. J. C. Kieffer and M. Chaker, J. X-ray Sci. Technol. 4, 312 (1994).
15. M. M. Murnane, H. C. Kapteyn, S. P. Gordon, and R. W. Falcone, Appl. Phys. B 58, 261 (1994).
16. J. F. Pelletier, M. Chaker, and J. C. Kieffer, Opt. Lett. 21, 1040 (1996).
17. J.-P. Mosnier, S. Bac, R. Barchewitz, E. T. Kennedy, M. Collins, and J. T. Costello, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 80, 295 (1996).
18. P. K. Carroll, E. T. Kennedy, and G. O'Sullivan, Appl. Opt. 19, 1454 (1980).
19. P. K. Carroll, E. T. Kennedy, and G. O'Sullivan, Opt. Lett. 2, 72 (1978).
20. G. O'Sullivan, J. R. Roberts, W. R. Ott, J. M. Bridges, T. L. Pittman, and M. Ginter, Opt. Lett. 7, 31 (1982).
21. Ch. Heckenkamp, U. Heinzmann, G. Schönhense, D. D. Burgess, A. P. Thorne, and J. E. G. Wheaton, J. Phys. D: Appl. Phys. 14, L203 (1981).
22. P. Gohil, H. Kapoor, D. Ma, M. C. Pekerar, T. J. McIlrath, and M. L. Ginter, Appl. Opt. 24, 2024 (1985).
23. M. L. Bortz and R. H. French, Appl. Phys. Lett. 55, 1955 (1989).
24. G. D. Kubiak, D. A. Outka, C. M. Rohlfing, J. M. Zeigler, D. L. Windt, and W. K. Waskiewicz, J. Vac. Sci. Technol. B 8, 1643 (1990).
25. K. Murakami, T. Ohyanagi, A. Miyashita, and O. Yoda, AIP Conf. Proc. 288, 375 (1994).
26. J. T. Costello, J.-P. Mosnier, E. T. Kennedy, P. K. Carroll, and G. O'Sullivan, Phys. Scr. T34, 77 (1991).
27. E. T. Kennedy, J. T. Costello, J.-P. Mosnier, A. A. Cafolla, M. Collins, L. Kiernan, U. Köble, M. H. Sayyad, and M. Shaw, Opt. Eng. (Bellingham) 33, 3984 (1994).
28. S. J. Davidson, D. Neely, C. L. S. Lewis, and D. O'Neill, Rutherford Appleton Laboratory Report No. RAL-90-026, 13 (1990).
29. I. C. E. Turcu, I. N. Ross, P. Trenda, C. W. Wharton, R. A. Meldrum, H. Daido, M. S. Schultz, P. Fluck, A. G. Michette, A. P. Juna, J. R. Maldonado, H. Shields, G. J. Tallents, L. Dwivedi, J. Krishnan, D. L. Stevens, T. J. Jenner, D. Batani, and H. Goodson, Proc. SPIE 2015, 243 (1994).
30. T. Kita, T. Harada, N. Nakano, and H. Kuroda, Appl. Opt. 22, 512 (1983).
31. A. G. MacPhee and C. L. S. Lewis, AiP Conf. Proc. 332, 441 (1994).
32. T. Makimura, T. Sakuramoto, and K. Murakami, Jpn. J. Appl. Phys. 35, L735 (1996).
33. J. Steingruber, S. Borgström, T. Starczewski, and U. Litzén, J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys. 29, L75 (1996).