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Volumn 82, Issue 5-6, 1997, Pages 630-634

Trace-element fractionation by impact-induced volatilization: SIMS study of lunar HASP samples

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FRACTIONATION; IMPACT; LUNAR REGOLITH; SIMS; TRACE ELEMENT; VOLATILIZATION;

EID: 0030831523     PISSN: 0003004X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.2138/am-1997-5-622     Document Type: Article
Times cited : (18)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.