Charged-coupled devices for charged-particle spectroscopy on OMEGA and NOVA

Review of Scientific Instruments

Volumn 68, Issue 1, 1997, Pages 593-595

  Li, C K ^a   Hicks, D G ^a   Petrasso, R D ^a   Seguin, F H ^a   Cable, M D ^b   Phillips, T W ^b   Sangster, T C ^b   Knauer, J P ^c   Cremer, S ^c   Kremens, R L ^c  

^a MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (United States)

^b LAWRENCE LIVERMORE NATIONAL LABORATORY   (United States)

^c UNIVERSITY OF ROCHESTER   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ALPHA PARTICLES; DEUTERIUM; DIODES; HYDROGEN; PARTICLE DETECTORS; PLASMA DIAGNOSTICS; PROTONS; SPECTROSCOPIC ANALYSIS; SPURIOUS SIGNAL NOISE; TRITIUM;

CHARGED PARTICLE SPECTROSCOPY; IMPLOSION; KINETIC ENERGY; SURFACE BARRIER DIODES;

CHARGE COUPLED DEVICES;

EID: 0030736544     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1147661     Document Type: Article

References (14)

1. M. D. Cable and S. P. Hatchett, J. Appl. Phys. 72, 2233 (1987).
2. H. Azechi, N. Miyanaga, R. O. Stapt, K. Itoga, H. Nakaishi, M. Yamanaka, H. Shiraga, R. Tsuji, S. Wo, K. Nishhara, Y. Izawa, T. Yamanaka, and C. Yamanaka, Appl. Phys. Lett. 49, 555 (1986).
3. S. Skupsky and S. Kacenjar, J. Appl. Phys. 52, 2608 (1981).
4. Y. Kitagawa, K. A. Tanaka, M. Nakai, T. Yamanaka, K. Nishihara, H. Azechi, N. Miyanaga, T. Norimatsu, T. Kanabe, C. Chen, A. Richard, M. Sato, H. Furukawa, and S. Nakai, Phys. Rev. Lett. 75, 3130 (1995).
5. R. D. Petrasso, C. K. Li, M. D. Cable, S. M. Pollaine, S. W. Haan, T. P. Bernat, J. D. Kilkenny, S. Cremer, J. P. Knauer, C. P. Verdon, B. L. Kremens. Phys. Rev. Lett. 77, 2718 (1996).
6. J. D. Lindl, Phys. Plasmas 2, 3933 (1995).
7. C. K. Li, D. G. Hicks, R. D. Petrasso, F. H. Seguin, J. P. Knauer, Bull. Am. Phys. Soc. 40, 1743 (1995).
8. D. G. Hicks, C. K. Li, R. D. Petrasso, F. H. Seguin, and J. P. Knauer, Bull. Am. Phys. Soc. 40, 1743 (1995); D. G. Hicks, C. K. Li, R. D. Petrasso, K. W. Wenzel, J. P. Knauer, MIT PFC Report PFC/RR-94-11, Nov. 1994, see also National Technical Information Service Document No. DE95006088.
9. D. G. Hicks, C. K. Li, R. D. Petrasso, F. H. Seguin, and J. P. Knauer, Bull. Am. Phys. Soc. 40, 1743 (1995); D. G. Hicks, C. K. Li, R. D. Petrasso, K. W. Wenzel, J. P. Knauer, MIT PFC Report PFC/RR-94-11, Nov. 1994, see also National Technical Information Service Document No. DE95006088.
10. D. G. Hicks, C. K. Li, R. D. Petrasso, F. H. Seguin, and J. P. Knauer, Bull. Am. Phys. Soc. 40, 1743 (1995); D. G. Hicks, C. K. Li, R. D. Petrasso, K. W. Wenzel, J. P. Knauer, MIT PFC Report PFC/RR-94-11, Nov. 1994, see also National Technical Information Service Document No. DE95006088.
11. D. G. Hicks, C. K. Li, R. D. Petrasso, F. H. Seguin, B. E. Burke, J. P. Knauer, S. Cremer, B. L. Kremens, Rev. Sci. Instrum., these proceedings; F. H. Seguin, D. G. Hicks, C. K. Li, R. D. Petrasso, M. D. Cable, and J. P. Knauer, Rev. Sci. Instrum., these proceedings.
12. D. G. Hicks, C. K. Li, R. D. Petrasso, F. H. Seguin, B. E. Burke, J. P. Knauer, S. Cremer, B. L. Kremens, Rev. Sci. Instrum., these proceedings; F. H. Seguin, D. G. Hicks, C. K. Li, R. D. Petrasso, M. D. Cable, and J. P. Knauer, Rev. Sci. Instrum., these proceedings.
13. B. E. Burke, R. D. Petrasso, C. K. Li, T. C. Hotaling, Rev. Sci. Instrum., these proceedings.
14. Scientific Imaging Technologies, Inc. 1994.