Two-flat method for bi-dimensional measurement of absolute departure from the best sphere

Pure and Applied Optics (Print edition) (United Kingdom)

Volumn 6, Issue 1, 1997, Pages 117-126

  Mercier, R ^a   Lamare, M ^a   Picart, P ^a   Marioge, J P ^a  

^a CNRS   (France)

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LEAST SQUARES APPROXIMATIONS; OPTICAL TESTING; OPTICAL VARIABLES MEASUREMENT; SENSITIVITY ANALYSIS;

OPTICAL FLATS;

GEOMETRICAL OPTICS;

EID: 0030701478     PISSN: 09639659     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0963-9659/6/1/013     Document Type: Article

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