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Volumn , Issue , 1997, Pages 307-312

Testability analysis method for register-transfer level descriptions

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COST EFFECTIVENESS; DATA TRANSFER; INTEGRATED CIRCUIT TESTING; LOGIC GATES;

EID: 0030672603     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.