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Volumn , Issue , 1997, Pages 129-130

Fabrication of 100 nm pMOSFETs with hybrid AFM/STM lithography

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ATOMIC FORCE MICROSCOPY; MOSFET DEVICES; PHOTOLITHOGRAPHY; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY;

EID: 0030655214     PISSN: 07431562     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
Times cited : (9)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.