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Volumn 460, Issue , 1997, Pages 313-324

Yield stress anomaly in B2 FeAl

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SINGLE CRYSTALS; STRAIN RATE; STRESS RELAXATION; THERMAL EFFECTS; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; YIELD STRESS;

EID: 0030645448     PISSN: 02729172     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.