Ramp-type YBa2Cu3O7-δ Josephson junctions with high characteristic voltage, fabricated by a new, completely in situ, growth technique

Applied Physics Letters

Volumn 69, Issue 19, 1996, Pages 2918-2920

  Strikovskiy, M D ^a,b   Engelhardt, A ^b  

^a INSTITUTE FOR PHYSICS OF MICROSTRUCTURES   (Russian Federation)

^b FORSCHUNGSZENTRUM JÜLICH   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CHARACTERIZATION; COPPER OXIDES; CURRENT VOLTAGE CHARACTERISTICS; DEPOSITION; ELECTRIC CURRENT MEASUREMENT; ELECTRIC RESISTANCE MEASUREMENT; FABRICATION; MAGNETIC FIELDS; MICROWAVES; OXIDE SUPERCONDUCTORS; PHOTOLITHOGRAPHY; VOLTAGE MEASUREMENT;

IN SITU GROWTH; JOSEPHSON EFFECT; MICROSHADOW MASK; RAMP TYPE JUNCTIONS; RESISTIVITY SHUNTED JUNCTION;

JOSEPHSON JUNCTION DEVICES;

EID: 0030569187     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.117323     Document Type: Article

References (21)

1. M. B. Ketchen, IEEE Trans. Magn. MAG-17, 387 (1981).
2. J. Gao, W. A. M. Aarnink, G. J. Gerritsma, and H. Rogalla, Physica C 171, 126 (1990); B. D. Hunt, M. C. Foote, and L. J. Bajuk, Appl. Phys. Lett. 59, 982 (1991); K. Char, M. S. Colclough, T. H. Geballe, and K. E. Myers ibid. 62, 196 (1993); O. L. Lebedev, A. L. Vasiliev, N. A. Kiselev, L. A. Maso, S. V. Gaponov, D. G. Paveliev, and M. D. Strikovskiy, Physica C 207, 381 (1993).
3. J. Gao, W. A. M. Aarnink, G. J. Gerritsma, and H. Rogalla, Physica C 171, 126 (1990); B. D. Hunt, M. C. Foote, and L. J. Bajuk, Appl. Phys. Lett. 59, 982 (1991); K. Char, M. S. Colclough, T. H. Geballe, and K. E. Myers ibid. 62, 196 (1993); O. L. Lebedev, A. L. Vasiliev, N. A. Kiselev, L. A. Maso, S. V. Gaponov, D. G. Paveliev, and M. D. Strikovskiy, Physica C 207, 381 (1993).
4. J. Gao, W. A. M. Aarnink, G. J. Gerritsma, and H. Rogalla, Physica C 171, 126 (1990); B. D. Hunt, M. C. Foote, and L. J. Bajuk, Appl. Phys. Lett. 59, 982 (1991); K. Char, M. S. Colclough, T. H. Geballe, and K. E. Myers ibid. 62, 196 (1993); O. L. Lebedev, A. L. Vasiliev, N. A. Kiselev, L. A. Maso, S. V. Gaponov, D. G. Paveliev, and M. D. Strikovskiy, Physica C 207, 381 (1993).
5. J. Gao, W. A. M. Aarnink, G. J. Gerritsma, and H. Rogalla, Physica C 171, 126 (1990); B. D. Hunt, M. C. Foote, and L. J. Bajuk, Appl. Phys. Lett. 59, 982 (1991); K. Char, M. S. Colclough, T. H. Geballe, and K. E. Myers ibid. 62, 196 (1993); O. L. Lebedev, A. L. Vasiliev, N. A. Kiselev, L. A. Maso, S. V. Gaponov, D. G. Paveliev, and M. D. Strikovskiy, Physica C 207, 381 (1993).
6. M. I. Faley, U. Poppe, H. Soltner, C. L. Jia, M. Siegel, and K. Urban, Appl. Phys. Lett. 63, 2138 (1993).
7. E. Olsson and K. Char. Appl. Phys. Lett. 64, 1292 (1993); M. A. J. Verhoeven, G. J. Gerritsma, and H. Rogalla, Inst. Phys. Conf. Ser. No. 148, 1395 (1995).
8. E. Olsson and K. Char. Appl. Phys. Lett. 64, 1292 (1993); M. A. J. Verhoeven, G. J. Gerritsma, and H. Rogalla, Inst. Phys. Conf. Ser. No. 148, 1395 (1995).
9. G. Koren, E. Aharoni, E. Polturak, and D. Cohen, Appl. Phys. Lett. 58, 634 (1991); D. K. Chin and T. Van Duzer ibid. 58, 753 (1991).
10. G. Koren, E. Aharoni, E. Polturak, and D. Cohen, Appl. Phys. Lett. 58, 634 (1991); D. K. Chin and T. Van Duzer ibid. 58, 753 (1991).
11. C. Stölzel, M. Siegel, G. Adrian, C. Krimmer, J. Söllner, W. Wilkens, G. Schulz, and H. Adrian, Appl. Phys. Lett. 63, 2970 (1993).
12. Z. W. Dong, P. Hadley, and J. E. Mooij, Extended Abstracts of the Fourth International Superconductor Electronic Conference (ISEC), Colorado, 1993 (unpublished), p. 219.
13. M. D. Strikovskiy, F. Kahlmann, J. Schubert, W. Zander, V. Glyantsev, G. Ockenfuss, and C. L. Jia, Appl. Phys. Lett. 66, 3521 (1995).
14. M. D. Strikovskiy, E. B. Klyuenkov, S. V. Gaponov, J. Schubert, and C. A. Copetti, Appl. Phys. Lett. 63, 1146 (1993).
15. Yu. M. Boguslavskij, J. Gao, A. J. H. M. Rijnders, D. Terpstra, G. J. Gerritsma, and H. Rogalla, Physica C 194, 268 (1992).
16. K. K. Likharev and B. T. Ulrich, Josephson Junction Circuits and Applications (In Russian) (Izd. Mosk. Universiteta, Moscow, 1978).
17. Y. Suzuki, J.-M. Triscone, C. B. Eom, M. R. Beasley, and T. H. Geballe, Phys. Rev. Lett. 73, 328 (1994).
18. E. Polturak, G. Koren, D. Cohen, E. Aharoni, and G. Deutscher, Phys. Rev. Lett. 67, 3038 (1991); T. Hashimoto, M. Sagoi, Y. Mazutani, J. Yoshida, and K. Mizushima, Appl. Phys. Lett. 60, 1756 (1992).
19. E. Polturak, G. Koren, D. Cohen, E. Aharoni, and G. Deutscher, Phys. Rev. Lett. 67, 3038 (1991); T. Hashimoto, M. Sagoi, Y. Mazutani, J. Yoshida, and K. Mizushima, Appl. Phys. Lett. 60, 1756 (1992).
20. T. Umezawa, D. J. Lew, S. K. Streiffer, and M. R. Beasley, Appl. Phys. Lett. 63, 3221 (1993); B. Ghyselen, M. A. Bari, E. J. Tarte, M. G. Blamire, R. E. Somekh, Y. Yan, and J. E. Evetts, Physica C 230, 327 (1994).
21. T. Umezawa, D. J. Lew, S. K. Streiffer, and M. R. Beasley, Appl. Phys. Lett. 63, 3221 (1993); B. Ghyselen, M. A. Bari, E. J. Tarte, M. G. Blamire, R. E. Somekh, Y. Yan, and J. E. Evetts, Physica C 230, 327 (1994).