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Volumn 257, Issue 5-6, 1996, Pages 557-562

Surface impact induced shattering of C60. Detection of small Cm fragments by negative surface ionization

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EID: 0030564741     PISSN: 00092614     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/0009-2614(96)00587-8     Document Type: Article
Times cited : (48)

References (24)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.