메뉴 건너뛰기




Volumn 53, Issue 2, 1996, Pages 982-988

Low-lying levels in 57Cu and the rp process

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords


EID: 0030533624     PISSN: 05562813     EISSN: 1089490X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevC.53.982     Document Type: Article
Times cited : (25)

References (15)
  • 7
    • 85026403446 scopus 로고    scopus 로고
    • note
    • Micron Semiconductor, Inc.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.