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Volumn 26, Issue 10, 1996, Pages 1724-1730

Relative efficiency and reliability of parametric and nonparametric sequential accuracy testing plans

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EID: 0030457806     PISSN: 00455067     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1139/x26-196     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.