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Volumn , Issue , 1996, Pages 461-464

Porous silicon gettering

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ANNEALING; COSTS; CRYSTAL IMPURITIES; DIFFUSION; ETCHING; FILM GROWTH; OXIDATION; PHOTONS; SUBSTRATES; SURFACES; THIN FILMS;

EID: 0030418641     PISSN: 01608371     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/pvsc.1996.564043     Document Type: Conference Paper
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References (15)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.