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Volumn 2, Issue , 1996, Pages 757-762

Monitoring of a pseudo contact point for fine manipulation

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END EFFECTORS; FORCE CONTROL; MANIPULATORS; MODELS; ROTATION; STRAIN GAGES;

EID: 0030385084     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.