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Volumn 1, Issue , 1996, Pages 3-12

SOI technologies, materials and devices

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CMOS INTEGRATED CIRCUITS; FABRICATION; GATES (TRANSISTOR); HOT CARRIERS; MOSFET DEVICES; SEMICONDUCTOR JUNCTIONS; SILICON WAFERS; ULSI CIRCUITS;

EID: 0030379377     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.