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Volumn 19, Issue 12, 1996, Pages

High-K dielectric materials for DRAM capacitors

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CAPACITOR STORAGE; PERMITTIVITY; RANDOM ACCESS STORAGE; SEMICONDUCTING SILICON;

EID: 0030285572     PISSN: 01633767     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
Times cited : (6)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.