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Volumn 82, Issue 5, 1996, Pages 172-177

Creep kinetics in metallic glasses

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BORON; CREEP; CREEP TESTING; HIGH TEMPERATURE TESTING; METALLIC GLASS; RELAXATION PROCESSES; SILICON; STRAIN;

EID: 0030282171     PISSN: 00153230     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.