Slow laser deposition of high quality ErBa2Cu3O7-x thin films

Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films

Volumn 14, Issue 5, 1996, Pages 2854-2858

  Del Vecchio, A ^a,d   Tapfer, L ^a   Berling, D ^b   Loegel, B ^b   Leggieri, G ^c   Luches, A ^c   Acquaviva, S ^c  

^a Centro Nazionale per la Ricerca e lo Sviluppo dei Materiali   (Italy)

^b UNIVERSITÉ DE HAUTE ALSACE   (France)

^c UNIVERSITY OF SALENTO   (Italy)

^d INFM   (Italy)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CRYSTAL ORIENTATION; DEPOSITION; ELECTRIC CONDUCTIVITY MEASUREMENT; ELECTRIC PROPERTIES; ERBIUM COMPOUNDS; FILM GROWTH; GONIOMETERS; LASERS; MAGNETIC PERMEABILITY MEASUREMENT; TEXTURES; X RAY DIFFRACTION ANALYSIS; ZIRCONIA;

ERBIUM BARIUM CUPRATE; LASER DEPOSITION; MOSAICITY; RECIPROCAL SPACE MAPPING; YTTRIA-STABILIZED ZIRCONIA;

SUPERCONDUCTING FILMS;

EID: 0030246598     PISSN: 07342101     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1116/1.580235     Document Type: Article

References (26)

1. D. Dimos, P. Chaudari, and J. Mannart, Phys. Rev. B 41, 4038 (1990).
2. G. Brorsson, E. Olsson, Z. G. Ivanov, E. A. Stepantsov, J. Alarco, Yu Boikov, T. Claeson, P. Berastegui, V. Langer, and M. Löfgren, J. Appl. Phys. 75, 7958 (1994).
3. R. Kromann, J. B. Bilde-Sørensen, R. de Reus, N. H. Andersen, P. Vase, and T. Freltoft, J. Appl. Phys. 71, 3419 (1992).
4. P. Å. Nilsson, Z. G. Ivanov, D. Winkler, H. K. Olsson, G. Brorsson, T. Claeson, E. A. Stepantsov, and A. Y. Tzalenchuk, Physica C 185, 2597 (1991).
5. S. S. Laderman, R. C. Taber, R. D. Jacowitz, J. L. Moll, C. B. Eom, T. L. Hylton, A. F. Marshall, T. H. Geballe, and M. R. Beasley, Phys. Rev. B 43, 2922 (1991).
6. Y. Suzuki, D. Lew, A. F. Marshall, M. R. Beasley, and T. H. Geballe, Phys. Rev. B 48, 10642 (1993).
7. H. R. Wenk, M. Sintubin, J. Huang, G. C. Johnson, and R. T. Howe, J. Appl. Phys. 67, 1 (1990).
8. A. Cassinese, A. Di Chiara, F. Miletto Granozio, S. Saiello, U. Scotti di Uccio, and M. Valentino, J. Mater. Res. 10, 1 (1995).
9. F. Sandiumenge, J. Santiso, and A. Figueras, J. Appl. Phys. 76, 2951 (1994); U. J. Cox, J. Crain, P. D. Hatton, G. S. Green, and D. Y. Dai, ibid. 75, 7966 (1994).
10. F. Sandiumenge, J. Santiso, and A. Figueras, J. Appl. Phys. 76, 2951 (1994); U. J. Cox, J. Crain, P. D. Hatton, G. S. Green, and D. Y. Dai, ibid. 75, 7966 (1994).
11. H. Karl and B. Stritzker, IEEE Trans. Appl. Supercond. 3, 1594 (1993).
12. S. F. Xu, Y. J. Tian, H. B. Lü, D. F. Cui, Z. H. Chen, L. Li, and G. Z. Yang, Thin Solid Films 47, 435 (1994).
13. H. K. Olsson, P.-Å Nilsson, Z. Ivanov, R. H. Koch, E. A. Stepentsov, and A. Y. Tzalenchuk, Appl. Phys. Lett. 61, 861 (1992).
14. D. Berling, A. Del Vecchio, S. Aquaviva, D, Bolmont, G. Leggieri, B. Loegel, M. L. de Giorgio, A. Luches, A. Mehdaoui, and L. Tapfer, Appl. Surf. Sci. (accepted).
15. J. A. Alarco, G. Brorsson, Z. G. Ivanov, P.-Å. Nilsson, and E. Olsson, Appl. Phys. Lett. 61, 723 (1992).
16. S. M. Garrison, N. Newman, B. F. Cole, K. Char, and R. W. Barton, Appl. Phys. Lett. 58, 2168 (1991).
17. D. K. Fork, A. Barrera, T. H. Geballe, A. M. Viano, and D. B. Fen, Appl. Phys. Lett. 57, 2504 (1990); D. K. Fork, S. M. Garrison, M. Hawley, and T. H. Geballe, J. Mater. Res. 7, 1641 (1992).
18. D. K. Fork, A. Barrera, T. H. Geballe, A. M. Viano, and D. B. Fen, Appl. Phys. Lett. 57, 2504 (1990); D. K. Fork, S. M. Garrison, M. Hawley, and T. H. Geballe, J. Mater. Res. 7, 1641 (1992).
19. M. Ece, E. G. Gonzales, and H. U. Habermeier, J. Appl. Phys. 77, 1646 (1995).
20. H. Asami and Y. Watanabe, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 1073 (1994).
21. C. B. Eom, A. F. Marshall, S. S. Laderman, R. D. Jacowitz, and T. H. Geballe, Science 249, 1549 (1990).
22. R. Ramesh, C. C. Chang, T. S. Ravi, D. M. Hwang, A. Inam, X. X. Xi, Q. Li, X. D. Wu, and T. H. Venkatesan, Appl. Phys. Lett. 57, 1064 (1990).
23. Y. Gao, G. Bai, D. J. Lam, and K. L. Merkle, Physica C 173, 487 (1991).
24. C. W. Nieh, L. Antony, J. Y. Josefowicz, and F. G. Krajenbrink, Appl. Phys. Lett. 56, 2138 (1990); C. C. Chang, X. D. Wu, R. Ramesh, X. X. Xi, T. S. Ravi, T. Venkatesan, D. M. Huang, R. E. Muenchausen, S. Foltyn, and N. S. Nogar, ibid. 57, 1814 (1990).
25. C. W. Nieh, L. Antony, J. Y. Josefowicz, and F. G. Krajenbrink, Appl. Phys. Lett. 56, 2138 (1990); C. C. Chang, X. D. Wu, R. Ramesh, X. X. Xi, T. S. Ravi, T. Venkatesan, D. M. Huang, R. E. Muenchausen, S. Foltyn, and N. S. Nogar, ibid. 57, 1814 (1990).
26. T. Burmann, J. Geerk, O. Meyer, R. Schneider, and G. Linker, Solid State Commun. 90, 599 (1994).