Scanned probe microscopies in chemistry

Journal of Physical Chemistry

Volumn 100, Issue 31, 1996, Pages 13103-13120

  Hamers, R J ^a  

^a UNIVERSITY OF WISCONSIN MADISON   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

APPLICATIONS; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CHEMISTRY; OPTICAL MICROSCOPY; PHYSICAL CHEMISTRY; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY;

BIOCHEMICAL IMAGING; MOLECULAR IDENTIFICATION;

MICROSCOPIC EXAMINATION;

EID: 0030218478     PISSN: 00223654     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp960054o     Document Type: Article

References (280)

1. Muller, E. W. Z. Phys. 1951, 131, 136.
2. Young, R.; Ward, J.; Scire, F. Phys. Rev. Lett. 1971, 27, 922.
3. Young, R. D. Phys. Today 1971.
4. Young, R.; Ward, J.; Scire, F. Rev. Sci. Instrum. 1972, 43, 999.
5. Binnig, G.; Rohrer. H. Helv. Phys. Acta 1982, 55, 726.
6. Binnig, G.; Rohrer, H.; Gerber, C.; Weibel, E. Phys. Rev. Lett. 1982, 49, 57.
7. Binnig, G.; Rohrer, H.; Gerber, C.; Weibel, E. Phys. Rev. Lett. 1983, 50, 120.
8. Binnig, G.; Rohrer, H.; Gerber, C.; Weibel, E. Appl. Phys. Lett. 1982, 40, 178.
9. Binnig, G.; Rohrer, H. Rev. Mod. Phys. 1987, 59, 615.
10. Demuth, J. E.; Hamers, R. J.; Tromp, R. M.; Weiland, M. E. IBM J. Res. Dev. 1986, 30, 396-402.
11. Binnig, G.; Quate, C. F.; Gerber, C. Phys. Rev. Lett. 1986, 12, 930.
12. Meyer, G.; Amer, N. M. Appl. Phys. Lett. 1988, 53, 1045.
13. Alexander, S.; Hellemans, L.; Marti, O.; Schneir, J.; Elings, V.; Hansma, P. K.; Longmire, M.; Gurley, J. J. Appl. Phys. 1989, 65, 164.
14. Erlandsson, R.; McClelland, G. M.; Mate, C. M.; Chiang, S. J. Vac. Sci. Technol. A 1988, 6, 266.
15. Sarid, D.; Iams, D. A.; Weissenberger, V.; Bell, L. S. Opt. Lett. 1988, 13, 1057.
16. Martin, Y.; Williams, C. C.; Wickramasinghe, H. K. J. Appl. Phys. 1987, 64, 4723.
17. Rugar, D.; Mamin, H. J.; Erlandsson, R.; Stern, J. E.; Terris, B. D. Rev. Sci. Instrum. 1988, 59, 2337.
18. Drake, B.; et al. Science (Washington, D.C.) 1989, 243, 1586.
19. Weisenhorn, A. L.; Hansma, P. K.; Albrecht, T. R.; Quate, C. F. Appl. Phys. Lett. 1989, 54, 2651.
20. Giessibl, F. J. Science (Washington, D.C.) 1995, 267, 68-71.
21. Sugawara, Y.; Ohta, M.; Ueyama, H.; Morita, S. Science 1995, 270.
22. Synge, E. H. Philos. Mag. 1928, 6, 356.
23. Ash, E. A.; Nichols, G. Nature 1972, 237, 510.
24. Courjon, D.; Sarayeddine, K.; Spajer, M. Opt. Commun. 1989, 71, 23.
25. Reddick, R. C.; Warmack, R. J.; Ferrell, R. L. Phys. Rev. B 1989, 39, 767-770.
26. Pohl, D. W.; Denk, W.; Lanz, M. Appl. Phys. Lett. 1984, 44, 651-653.
27. Durig, U.; Pohl, D. W.; Rohner, F. J. Appl. Phys. 1986, 59, 3318.
28. Berzig, E.; Isaacson, M.; Lewis, A. Appl. Phys. Lett. 1987, 51, 2088.
29. Betzig, E.; Trautman, J. K.; Harris, T. D.; Weiner, J. S.; Kostelak, R. L. Science 1991, 251, 1468-1470.
30. Betzig, E.; Finn, P. L.; Weiner, J. S. Appl. Phys. Lett. 1992, 60, 2484.
31. Betzig, E.; Trautman, J. K. Science (Washington, D.C.) 1992, 257, 189-195.
32. Harris, T. D.; Grober, R. D.; Trautman, J. K.; Betzig, E. Appl. Spectrosc. 1994, 48, 14A-21A.
33. Trautman, J. K.; Macklin, J. J.; Brus, L. E.; Betzig, E. Nature 1994, 369, 40-42.
34. Takayanagi, K.; Tanishiro, Y.; Takahashi, M.; Takahashi, S. J. Vac. Sci. Technol. A 1985, 3, 1502.
35. Avouris, P.; Lyo, I. W.; Bozso, F.; Kaxiras, E. J. Vac. Sci. Technol. A 1990, 8, 3406-3411.
36. Lyo, I.-W.; Kaxiras, E.; Avouris, P. Phys. Rev. Lett. 1989, 63, 1261.
37. Bedrossian, P.; Meade, R. D.; Mortensen, K.; Chen, D. M.; Golovchenko, J. A. Phys. Rev. Lett. 1989, 63, 1257.
38. Bardeen, J. Phys. Rev. Lett. 1961, 6, 57.
39. Tersoff, J.; Hamann, D. R. 1983, 50, 1998.
40. Tersoff, J.; Hamann, D. R. Phys. Rev. B 1985, 31, 805.
41. Kuk, Y.; Silverman, P. J.; Nguyen, H. Q.; A, J. V. S. T. J. Vac. Sci. Technol. A 1988, 6, 524.
42. Tsukada, M.; Kobayashi, K.; Isshiki, N.; Watanabe, S.; Kageshima, H.; Schimizu, T. In Scanning Tunneling Microscopv III; Wiesendanger, R., Guntherodt, H.-J., Eds.; Springer-Verlag: Berlin, 1993; Vol. 29, pp 77-103.
43. Tsukada, M.; Kobayashi, K.; Isshiki, N.; Kageshima, H. Surf. Sci. Rep. 1991, 13, 265-304.
44. Noguera, C. In Scanning Tunneling Microscopy III; Wiesendanger, R., Guntherodt, H.-J., Eds.; Springer-Verlag: Berlin, 1993; Vol. 29, pp 51-76.
45. Hamers, R. J.; Tromp, R. M.; Demuth, J. E. Surf. Sci. 1987, 181, 246-355.
46. Hamers, R. J.; Tromp, R. M.; Demuth, J. E. Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 1972-1975.
47. Feenstra, R. M.; Stroscio, J. A. J. Vac. Sci. Technol. B 1987, 5, 923-929.
48. Lang, N. D. Phys. Rev. Lett. 1985, 55, 230-233.
49. Lang, N. D. Phys. Rev. B 1986, 34, 5947-5950.
50. Lang, N. D. Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 1164-1167.
51. Lang, N. D. Phys. Rev. Lett. 1987, 58, 45-48.
52. Lang, N. D. IBM J. Res. Dev. 1986, 30, 374-379.
53. Hamers, R. J. In Scanning Tunneling Microscope I; Guntherodt, H.-J., Wiesendanger, R., Eds.; Spring-Verlag: Berlin, 1992; pp 83-129.
54. Wiesendanger, R.; Anselmetti, D. In Scanning Tunneling Microscopy I; Guntherodt, H.-J., Wiesendanger, R., Eds.; Springer-Verlag: Berlin, 1992; pp 131-179.
55. Coleman, R. V.; Drake, B.; Hansma, P. K.; Slough, G. Phys. Rev. Lett. 1985, 55, 394.
56. Thomson, R. E.; Walter, U.; Ganz, E.; Clarke, J.; Zettl, A. Phys. Rev. B 1988, 38, 10734.
57. Giambattista, B.; Slough, C. G.; McNairy, W. W.; Coleman, R. V. Phys. Rev. B 1990, 42, 9255.
58. Slough, C. G.; McNairy, W. W.; Coleman, R. V.; Garnaes, J.; Prater, C. B.; Hansma, P. K. Phys. Rev. B 1990, 42, 9255.
59. Burk, B.; Thomson, R. E.; Zettl, A.; Clarke, J. Phys. Rev. Lett. 1991, 66, 3040.
60. Wu, X. L.; Zhang, Z.; Wang, Y. L.; Lieber, C. M. Science (Washington, D.C.) 1988, 248, 1211.
61. Chen, H.; Wu, X. L.; Lieber, C. M. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 3326.
62. Wu, X. L.; Zhou, P.; Lieber, C. M. Nature 1988, 335, 55.
63. Wu, X. L.; Zhang, Z.; Wang, Y. L.; Lieber, C. M. Science (Washington, D.C.) 1990, 248, 1211.
64. Dai, H.; Lieber, C. M. Annu. Rev. Phys. Chem. 1993, 44, 237.
65. Dai, H.; Lieber, C. M. Phys. Rev. Lett. 1992, 69, 1576.
66. Lieber, C. M.; Wu, X. L. Acc. Chem. Res. 1991, 24, 170.
67. Coleman, R. V.; Giambattista, B.; Hansma, P. K.; Johnson, A.; McNairy, W. W.; Slough, C. G. Adv. Phys. 1988, 37, 559.
68. Hamers, R. J. J. Vac. Sci. Technol. B 1988, 6, 1462-1467.
69. Hamers, R. J. Annu. Rev. Phys. Chem. 1989, 40, 531-559.
70. Feenstra, R. M.; Stroscio, J. A.; Fein, A. P. Surf. Sci. 1987, 181, 295-306.
71. Feenstra, R. M. Phys. Rev. B 1991, 44, 13791-13794.
72. Pelz, J. P. Phys. Rev. B 1991, 43, 6746-6749.
73. Hamers, R. J.; Avouris, P.; Bozso, F. Phys. Rev. Lett. 1987, 59, 2071-2074.
74. Hamers, R. J.; Köhler, U. K. J. Vac. Sci. Technol. A 1989, 7, 2854-2859.
75. Becker, R. S.; Gotovchenko, J. A.; Hamann, D. R.; Swartzentruber, B. S. Phys. Rev. Lett. 1985, 55, 2032.
76. Kubby, J. A.; Griffith, J. E.; Becker, R. S.; Vickers, J. S. Phys. Rev. B 1987, 36, 6079-6093.
77. Zhang, Z.; Lieber, C. M. J. Phys. Chem. 1992, 96, 2030-2038.
78. Wu, X. L.; Zhang, Z.; Wang, Y. L.; Lieber, C. M. Science 1990, 248, 1211.
79. Tanaka, M.; Takahashi, T.; Katayama-Yoskida, H.; Yamazaki, S.; Fujinami, M.; Okabe, Y.; Mizutani, W.; Ono, M.; Kajimura, K. Nature 1989, 339, 691.
80. Shih, C. K.; Feenstra, R. M.; Chandrashekhar, G. V. Phys. Rev. B 1991, 43, 7913.
81. Shih, C. K.; Feenstra, R. M.; Kirtley, J. R.; Chandrashekhar, G. V. Phys. Rev. B 1989, 40, 2682.
82. Zhang, Z.; Wang, Y. L.; Wu, X. L.; Huang, J. L.; Lieber, C. M. Phys. Rev. B 1990, 42, 1082.
83. '(83) Kaiser, W. J.; Bell, L. D. Phys. Rev. Lett. 1988, 66, 3179.
84. Ludeke, R. Phys. Rev. Lett. 1993, 70, 214.
85. Ludeke, R.; Prietsch, M.; Samsavar, A. J. Vac. Sci. Technol. B 1991, 9, 2342.
86. Prietsch, M.; Samsavar, A.; Ludeke, R. Phys. Rev. B 1991, 43, 11850.
87. Prietsch, M.; Ludeke, R. Phys. Rev. Lett. 1991, 66, 2511.
88. Wintterlin, J.; Wiechers, J.; Brune, H.; Gritsch, T.; Hofer, H.; Behm, R. J. Phys. Rev. Lett. 1989, 62, 59.
89. Wintterlin, J.; Wiechers, J.; Gritsch, T.; Hofer, H.; Behm, R. J. J. Microsc. 1988, 152, 423.
90. Kopatzki, E.; Behm, R. J. Surf. Sci. 1991, 245, 255.
91. Ogletree, D. F.; Ocal, C.; Marchon, B.; Somorjai, G. A.; Salmeron, M.; T. Beebe, J.; Siekhaus, W. J. Vac. Sci. Technol. A 1990, 8, 297.
92. Gritsch, T.; Coulman, D.; Behm, R. J.; Ertl, G. Phys. Rev. Lett. 1989, 63, 1086.
93. Coulman, D. J.; Wintterlin, J.; Behm, R. J.; Ertl, G. Phys. Rev. Lett. 1990, 64, 1761.
94. Chua, F. M.; Kuk, Y.; Silverman, P. J. Phys. Rev. Lett. 1989, 63, 386.
95. Jensen, F.; Besenbacher, F.; Laegsgaard, E.; Stenssaard, I. Phys. Rev. B 1990, 41, 10233.
96. Wintterlin, J.; Schuster, R.; Coulman, D. J.; Ertl, G.; Behm, R. J. J. Vac. Sci. Technol. B 1991, 9, 902.
97. Ogletree, D. F.; Ocal, C.; Marchon, B.; Somorjai, G. A.; Salmeron, M.; Beebe, T.; Siekhaus, W. J. Vac. Sci. Technol. A 1990, 8, 297.
98. Marchon, B.; Ogletree, D. F.; Bussel, M. E.; Somorjai, G. A.; almeron, M.; Siekhaus, W. J. Microsc. 1988, 152, 427.
99. Roussel, S.; Gauthier, S.; Siboulet, O.; Sacks, W.; Belin, M.; Klein, Phys. Rev. Lett. 1989, 63, 1265.
100. Rousset, S.; Gauthier, S.; Siboulet, O.; Sacks, W.; Belin, M.; Klein, J. Vac. Sci. Technol. A 1990, 8, 302.
101. Chambliss, D. D.; Wilson, R. J.; Chiang, S. Phys. Rev. Lett. 1991, 1721.
102. Hwang, R. Q.; Schroder, J.; Gunther, C.; Behm, R. J. Phys. Rev. Lett. 1991, 67, 3279.
103. Baratoff, A.; Persson, B. N. J. J. Vac. Sci. Technol. A 1988, 6, 331-335.
104. Persson, B. N. J.; Baratoff, A. Phys. Rev. Lett. 1987, 59, 339-342.
105. Binnig, G.; Barcia, N.; Rohrer, H. Phys. Rev. B 1985, 32, 1336-1368.
106. Smith, D. P. E.; Binnig, G.; Quate, C. F. Appl. Phys. Lett. 1986, 49, 1641-1643.
107. Smith, D. P. E.; Kirk, M. D.; Quate, C. F. J. Chem. Phys. 1987, 86, 6034-6038.
108. Eigler, D. Private communication.
109. Hamers, R. J. Chem. Rev., in press.
110. Chiang, S. In Scanning Tunneling Microscopy I; Guntherodt, H. J., Wiesendanger, R., Eds.; Springer-Verlag: Berlin, 1992; pp 181-205.
111. Ohtani, H.; Mate, C. M.; Wilson, R. J.; Chiang, S. Phys. Rev. Lett. 1988, 60, 2398-2401.
112. Chiang, S.; Mate, C. M.; Ohtani, H.; Wilson, R. J. J. Microsc. 1988, 152, 567-571.
113. Hallmark, V. M.; Chiang, S. Surf. Sc. 1993, 286, 190-200.
114. Hallmark, V. M.; Chiang, S.; Meinhardt, K.-P.; Hafner, K. Phys. Rev. Lett. 1993, 70, 3740-3743.
115. Hallmark, V. M.; Chiang S. Surf. Sc. 1995, 329, 255-268.
116. Sletor, T.; Tycko, R. Phys. Rev. Lett. 1988, 60, 1418.
117. Dvorak, M.; Li, S.; Ward, M. D. Chem. Mater. 1994, 6, 1386.
118. Lippel, P. H.; Wilson, R. J.; Miller, M. D.; Woll, C.; Chiang, S. Phys. Rev. Lett. 1989, 62, 171-174.
119. Altman, E. I.; Colton, R. J. Surf. Sci. 1993, 295, 13-33.
120. Altman, E. I.; Colton, R. J. J. Vac. Sci. Technol. B 1994, 12, 1906.
121. Li, Y. Z.; Chander, M.; Patrin, J. C.; Weaver, J. H.; Chibante, L. P. F.; Smalley, R. E. Science (Washington, D.C.) 1991, 253, 429-433.
122. Li, Y. Z.; Chander, M.; Patrin, J. C.; Weaver, J. H.; Chibante, L. P. F.; Smalley, R. E. Science 1991, 252, 547.
123. Li, Y. Z.; Chander, M.; Patrin, J. C.; Weaver, J. H.; Chibante, L. P. F.; Smalley, R. E. Phys. Rev. B 1991, 45, 3837-3840.
124. Gaisch, R.; Berndt, R.; Gimzewski, J. K.; Reihl, B.; Schlittler, R. R.; Schneider, W. D.; Tschudy, M. Appl. Phys. A 1993, 57, 207-210.
125. Gaisch, R.; Berndt, R.; Schneider, W. D.; Gimzewski, J. K.; Reihl, B.; Schlittler, R. R. J. Vac. Sci. Technol. B 1994, 12, 2153-55.
126. Hashizume, T.; Wang, X. D.; Nishina, Y.; Shinohara, H.; Saito, Y.; Kuk, Y.; Sakurai, T. Jpn. J. Appl. Phys. Part 2 1992, 31, L880-L883.
127. Gimzewski, J. K.; Modesti, S.; David, T.; Schlittler, R. R. J. Vac. Sci. Technol. B 1994, 12, 1942-1946.
128. Weiss, P. S.; Eigler, D. M. Phys. Rev. Lett. 1993, 71, 3139-3142.
129. Sautet, P.; Joachim, C. Chem. Phys. Lett. 1991, 185, 23.
130. Sautet, P.; Bocquet, M. Surf. Sci. 1994, 304, L445-L450.
131. Stranick, S. J.; Kamna, M. M.; Weiss, P. S. Science 1994, 266, 99.
132. Stranick, S. J.; Kamna, M. M.; Weiss, P. S. Surf. Sci. 1995, 338, 41-59.
133. Frank, E. R.; Chen, X.; Hamers, R. J. Surf. Sci. 1995, 334, L709-L714.
134. Chen, X.; Frank, E. R.; Hamers, R. J. J. Vac. Sci. Technol., B in press.
135. Chen, X.; Hamers, R. J. Manuscript in preparation.
136. Binnig, G.; Rohrer, H. In Trends in Physics; Janta, J., Pantollicek, J., Eds.; European Physical Society: The Hague, 1984; pp 38-46.
137. Clemmer, C. R.; Beebe, T. P. Science (Washington, D.C.) 1991 251, 640-642.
138. Heckl, W. M.; Binnig, G. Ultramicroscopy 1992, 42-44, 1073-1076.
139. Vesenka, J.; Guthold, M.; Tang, C. L.; Keller, D.; Delaine, E.; Bustamante, C. Ultramicroscopy 1992, 42-44, 1243-1249.
140. Wiegrabe, W.; Nonnenmacher, M.; Guckenberger, R.; Wolter, O. J. Microsc. 1991, 163, 79-84.
141. Hansma, H. G.; Sinsheimer, R. L.; Groppe, J.; Bruice, T. C.; Elings, V.; et al. Scanning 1993, 15, 296-299.
142. Hansma, H. J. Vac. Sci. Technol. B. in press.
143. Rees, W. A.; Keller, R. W.; Vesenka, J. P.; Yang, G.; Bustamante, C. Science 1993, 260, 1646-1649.
144. Bezanilla, M.; et al. Biophys. J. 1994, 67, 2454-2459.
145. Drake, B.; et al. Science (Washington, D.C.) 1989, 243, 1586-1589.
146. Baselt, D. R., Lee, G. U., Colton, R. J. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 789.
147. Sonnenfeld, R.; Hansma, P. K. Science (Washington, D.C.) 1986, 232, 211.
148. Arvia, A. J. Surf. Sci. 1987, 181, 78-91.
149. Itaya, K.; Tomita, E. Surf. Sci. 1988, 201.
150. Lev, O.; Fan, F.-R.; Bard, A. J. J. Electrochem. Soc. 1988, 135, 783.
151. Lustenberger, P.; Rohrer, H.; Christoph, R.; Siegenthaler, H. J. Electroanal. Chem. 1988, 243, 225.
152. Weaver, M. J.; Gao, X. P. Annu. Rev. Phys. Chem. 1993, 44, 459.
153. Sneddon, D. D.; Sabel, D. M.; Gewirth, A. A. J. Electrochem. Soc. 1995, 142, 3027-3033.
154. Richard, K. M.; Gewirth, A. A. J. Phys. Chem. 1995, 32, 12288-12293.
155. Gewirth, A. A.; Ge, M. H. Surf. Sci. 1995, 324, 140-148.
156. Suggs, D. W.; Bard, A. J. J. Phys. Chem. 1995, 99, 8349-8355.
157. Chen, C. H.; Washburn, N.; Gewirth, A. A. J. Phys. Chem. 1993, 97, 9754-9760.
158. Chen, C. H.; Kepler, K. D.; Gewirth, A. A.; Ocko, B. M.; Wang, J. J. Phys. Chem. 1993, 97, 7290-7294.
159. Gao, X. P.; Weaver, M. J. J. Phys. Chem. 1993, 97, 8685-8689.
160. Gao, X. P.; Weaver, M. J. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 8544.
161. Gao, X. P.; Hamelin, A.; Weaver, M. J. Surf. Sci. 1992, 274, L588-L592.
162. Kepler, K. D.; Gewirth, A. A. Surf. Sci. 1994, 303, 101-113.
163. Yau, S. L.; Fan, F. R. F.; Bard, A. J. J. Electrochem. Soc. 1992, 139, 2825.
164. Carlsson, P.; Holmstrom, B.; Kita, H.; Uosaki, K. J. Electroanal. Chem. 1990, 283, 425.
165. Sakamaki, K.; Matsunaga, S.; Itoh, K.; Fujishima, A.; Gohshi, Y. Surf. Sci. 1989, 219, L531.
166. Higgins, S. R.; Hamers, R. J. Surf. Sci. 1995, 324, 263-281.
167. Houbertz, R.; Memmert, U.; Behm, R. J. Appl. Phys. Lett. 1991, 58, 1027.
168. Bard, A. J.; Fan, F.; Kwak, J.; Lev, O. Anal. Chem. 1989, 61, 132-138.
169. Bard, A. J.; Fan, F. R. Faraday Discuss. 1992, 94, 1-22.
170. Christoph, R.; Siegenthaler, H.; Rohrer, H.; Wiese, H. Electrochim. Acta 1989, 34, 1011.
171. Gewirth, A.; Bard, A. J. J. Phys. Chem. 1988, 92, 5563.
172. Gewirth, A. A.; Cranston, D. H.; Bard, A. J. J. Electroanal. Chem. 1989, 261, 477.
173. Arca, M.; Bard, A. J.; Horrocks, B. R.; Richards, R. C.; Treichel, D. A. Analyst 1994, 119, 719-726.
174. Horrocks, B. R.; Schmidtke, D.; Heller, A.; Bard, A. J. Anal. Chem. 1993, 65, 3605.
175. Wei, C.; Bard, A. J. J. Electrochem. Soc. 1995, 142, 2523.
176. Magnussen, O. M.; Hotlos, J. M.; Nichols, R. J.; Kolb, D. M.; Behm. R. J. Phys. Rev. Lett. 1990, 64, 2929.
177. Meyer, E.; Heinzelmann, H. In Scanning Tunneling Microscopy II; Wiesendanger, R., Guntherodt, H.-J., Eds.; Springer-Verlag: Berlin, 1992.
178. Blackman, G. S.; Mate, C. M.; Philpott, M. R. Phys. Rev. Lett. 1990, 65, 2270.
179. Burnham, N. A.; Dominguez, D. D.; Mowery, R. L.; Colton, R. J. Phys. Rev. Lett 1990, 64, 1931.
180. Landman, U.; Luedtke, W. D.; Burnham, N. A.; Colton, R. J. Science 1990, 248, 454.
181. Landman, U.; Luedtke, W. D. J. Vac. Sci. Technol. A 1991, 9, 414.
182. Mate, C. M.; McClelland, G. M.; Erlandsson, R.; Chiang, S. Phys. Rev. Lett. 1987, 59, 1942.
183. Heinzelmann, H.; Meyer, E.; Brodbeck, D.; Overney, G.; Guntherodt, J.-J. Z. Phys. B: Condens. Matter 1992, 88, 321.
184. O'Shea, S. J.; Welland, M. E.; Wong, T. M. H. Ultramicroscopy 1993, 52, 55.
185. Ruan, J.; Bhushan, B. J. Appl. Phys. 1994, 76, 8117.
186. Fujisawa, S.; Sugawara, Y.; Morita, S. Tribol. Lett. 1995, 1.
187. Fujisawa, S.; Sugawara, Y.; Ito, S.; Mishima, S.; Okada, T.; Morita, S. Nanotechnology 1995, 4, 138.
188. Kerssemakers, J.; DeHosson, J. T. M. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 347.
189. Barrett, R. C.; Nogami, J.; Quate, C. F. Appl. Phys. Lett. 1990, 57, 992.
190. Meyer, E.; Anselmetti, D.; Wiesendanger, R.; Guntherodt, H.-J.; Levy, F.; Berger, H. Europhys. Lett. 1989, 9, 695.
191. Meyer, E.; Wiesendanger, R.; Anselmetti, D.; Guntherodt, J.-J.; Levy, F.; Berger, H. J. Vac. Sci. Technol. A 1989, 8, 495.
192. Sasaki, N.; Kobayashi, K.; Tsukada, M. Phys. Rev. B, submitted for publication.
193. Tomanek, D.; Overney, G.; Miyazaki, H.; Mahanti, S. D.; Guntherodt, H.-J. Phys. Rev. Lett. 1989, 63, 876.
194. Ciraci, S.; Baratoff, A.; Batra, I. P. Phys. Rev. B 1990, 2763.
195. Overney, G.; Zhong, W.; Tomanek, D. J. Vac. Sci. Technol. B 1991, 9, 479.
196. Landman, U.; Luedtke, W. D. J. Vac. Sci. Technol. B 1991, 9, 414.
197. Harrison, J. A.; White, C. T.; Colton, R. J.; Brenner, D. W. Phys. Rev. B 1992, 46, 9700.
198. Glosli, J. N.; McClelland, G. M. Phys. Rev. Lett. 1993, 70, 1960.
199. Zhong, W.; Tomanek, D. Phys. Rev. Lett. 1990, 64, 3054.
200. Abraham, F. F.; Batra, I. P. Surf. Sci. 1989, 209, L125.
201. Gyalog, E.; Bammerlin, M.; Luthi, R.; Meyer, E.; Thomas, H. Europhys. Lett. 1995, 31, 269.
202. Tomanek, D. In Springer Series in Surface Sciences; Wiesendanger, R., Guntherodt, H.-J., Eds.; Springer-Verlag: Berlin, 1993; Vol. 29.
203. Batra, I.; Ciraci, S. J. Vac. Sci. Technol. A 1988, 6, 313.
204. Putnam, C. A. J.; Igarashi, M.; Kaneko, R. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 3221.
205. Fujisawa, S.; Kishi, E.; Sugawara, Y.; Morita, S. Phys. Rev. B 1995, 51, 7849.
206. Erlandsson, R.; Hadziioannou, G.; Mate, C. M.; McClelland, G. M.; Chiang, S. J. Chem. Phys. 1988, 89, 5190.
207. McKinnon, A. W.; Welland, M. E.; Wong, T. M. H.; Gimzewski, J. K. Phys. Rev. B 1993, 48, 15250.
208. Berndt, R.; Gimzewski, J. K. Ann. Phys. 1993, 2, 133.
209. Berndt, R.; Gimzewski, J. K. Int. J. Mod. Phys. B 1993, 7, 516.
210. Berndt, R.; Gimzewski, J. K. Phys. Rev. B 1993, 48, 4746.
211. Berndt, R.; Gimzewski, J. K.; Johansson, P. Phys. Rev. Lett. 1991, 67, 3796.
212. Berndt, R.; Schlittler, R. R.; Gimzewski, J. K. J. Vac. Sci. Technol. B 1991, 9, 573.
213. Gimzewski, J.; Sass, J. K.; Schlittler, R. R.; Schott, J. Europhys. Lett. 1989, 8, 435.
214. Berndt, R.; Gimzewski, J. K. Phys. Rev. B 1992, 45, 4095.
215. Berndt, R.; Gimzewski, J. K.; Johansson, P. Phys. Rev. Lett. 1993, 71, 3493.
216. Berndt, R.; Gimzewski, J. K.; Johansson, P. Phys. Rev. Lett. 1991, 67, 3796.
217. Alvarado, S. F.; Renaud, P.; Meier, H. P. J. Phys. IV 1991, 1,
218. Alvarado, S. F.; Renaud, P. Phys. Rev. Lett. 1992, 68, 1387-1390.
219. Renaud, P.; Alvarado, S. F. Phys. Rev. B 1991, 44, 6340.
220. Renaud, P.; Alvarado, S. F. IEEE Trans. Electron Devices 1992, 39, 2644-2645.
221. Berndt, R.; Gaisch, R.; Schneider, W. D.; Gimzewski, J.; Reihl, B.; Schlittler, R. R. Surf. Sci. 1994, 309, 1033-1037.
222. Berndt, R.; Gaisch, R.; Schneider, W. D.; Gimzewski, J. K.; Reihl, B.; Schlittler, R. R.; Tschudy, M. Appl. Phys. A 1993, 57, 513.
223. Berndt, R.; Gaisch, R.; Gimzewski, J. K.; Reihl, B.; Schlittler, R. R.; Schneider, W. D.; Tschudy, M. Science (Washington, D.C.) 1993, 262, 1425.
224. Berndt, R.; Gaisch, R.; Schneider, W. D. Phys. Rev. Lett. 1995, 74, 102-105.
225. Hamers, R. J.; Markert, K. Phys. Rev. Lett. 1990, 64, 1051-1054.
226. Hamers, R. J.; Cahill, D. G. J. Vac. Sci. Technol. B 1991, 9, 514-518.
227. McEllistrem, M.; Haase, G.; Chen, D.; Hamers, R. J. Phys. Rev. Lett. 1993, 70, 2471-2474.
228. Freeman, M. R.; G. Nunes, J. Appl. Phys. Lett. 1993, 63, 2633.
229. Nunes, G.; Freeman, M. R. Science (Washington, D.C.) 1993, 262, 1029-1032.
230. Weiss, S.; Ogletree, D. F.; Botkin, D.; Salmeron, M.; Chemla, D. S. Appl. Phys. Lett. 1993, 63, 2567.
231. Manassen, Y.; Hamers, R. J.; Demuth, J. E.; Castellano, A. J. Phys. Rev. Lett. 1989, 62, 2531.
232. Rugar, D.; Yannoni, C. S.; Sidles, J. A. Nature 1992, 360, 563-566.
233. Zuger, O.; Rugar, D. J. Appl. Phys. 1994, 75, 6211-6216.
234. Zuger, O.; Rugar, D. Appl. Phys. Lett. 1993, 63, 2496.
235. Rugar, D.; Zuger, O.; Hoen, S.; Yannoni, C. S.; Vieth, H.-M.; Kendrick, R. D. Science (Washington, D.C.) 1994, 264, 1560.
236. Sidles, J. A.; Garbini, J. L.; Bruland, K. J.; Rugar, D.; Zuser, O.; Hoen, S.; Yannoni, C. S. Rev. Mod. Phys. 1995, 67, 249-265.
237. Williams, C. C.; Wickramasinghe, H. K. Appl. Phys. Lett. 1986, 49, 1587.
238. Weaver, J. M. R.; Walpita, L. M.; Wickramasinghe, H. K. Nature 1989, 342, 783.
239. Williams, C. C.; Wickramasinghe, H. K. Nature 1990, 344, 317,
240. Dransfeld, K.; Xu, J. J. Microsc. 1988, 152, 35.
241. Becker, R. S.; Golovchenko, J. A.; Swartzentruber, B. S. Nature 1987, 325, 419.
242. Kim, Y.; Lieber, C. M. Science 1992, 257, 375.
243. Mamin, H. J.; Guethner, P. H.; Rusar, D. Phys. Rev. Lett. 1990, 65, 2418-2421.
244. Mamin, H. J.; Chiang, S.; Birk, H.; Guethner, P. H.; Rusar, D. J. Vac. Sci. Technol. B 1991, 9, 1398.
245. Mamin, H. J.; Rugar, D. Phys. Rev. Lett. 1994, 72, 1128.
246. Pascual, J. I.; Mendez, J.; Gomez-Herrero, J.; Baro, A. M.; Garcia, N. Phys. Rev. Lett. 1994, 72, 1129.
247. Chang, C. S.; Su, W. B.; Tsong, T. T. Phys. Rev. Lett. 1994, 72, 574.
248. Pascual, J. I.; Mendez, J.; Gomez-Herrero, J.; Baro, A. M.; Garcia, N. Phys. Rev. Lett. 1993, 71, 1852.
249. Mizutani, W.; Ohi, A.; Motomatsu, M.; Tokumoto. H. Appl. Surf. Sci. 1995, 87/88, 398-404.
250. Cleary, D. New Sci. 1991, 129, 31.
251. Lyo, I.-W.; Avouris, P. Science (Washington, D.C.) 1991, 253, 173.
252. Kuramochi, H.; Uchida, H.; Aono, M. Phys. Rev. Lett. 1994, 72, 932.
253. Huang, D.; Uchida, H.; Aono, M. J. Vac. Sci. Technol. B 1994, 12, 2429.
254. Kobayashi, A.; Grey, F.; Williams, R. S.; Aono, M. Science (Washington, D.C.) 1993, 259, 1724.
255. Salling, C. T.; Lagally, M. G. Science (Washington, D.C.) 1994, 265, 502.
256. Salling, C. T. J. Vac. Sci. Technol. B. in press.
257. Eigler, E. M.; Lutz, C. P.; Rudge, W. E. Nature 1991, 352, 600.
258. Snow, E. P.; Campbell, P. M.; McMarr, P. J. Appl. Phys. Lett. 1993, 63, 749.
259. Boland, J. J. Surf. Sci. 1991, 244, 1-14.
260. Dagata, J.; Schneir, J.; Harary, H. H.; Evans, C. J.; Postek, M. T.; Bennet, J. Appl. Phys. Lett. 1994, 56, 2001.
261. Becker, R. S.; Higashi, G. S.; Chabal, Y. J.; Becker, A. J. Phys. Rev. Lett. 1990, 65, 1917-1920.
262. Foster, J. S.; Frommer, J. E.; Arnett, P. C. Nature 1988, 331, 324.
263. Marrian, C. R. K.; Dobisz, E. A.; Colton, R. J. J. Vac. Sci. Technol. A 1990, 8, 3563.
264. Dobisz, E. A.; Marrian, C. R. K. Appl. Phys. Lett. 1991, 58, 2526.
265. Shen, T.-C.; Wang, C.; Abeln, G. C.; Tucker, J. R.; Lyding, J. W.; Avouris, P.; Walkup, R. E. Science 1995, 268, 1590.
266. Lyding, J. W.; Abeln, G. C.; Shen, T. C.; Wang, C.; Tucker, J. R. J. Vac. Sci. Technol. B 1994, 12, 3735-3740.
267. Lyding, J. W.; Shen, T. C.; Hubacek, J. S.; Tucker, J. R.; Abeln, G. C. Appl. Phys. Lett. 1994, 64, 2010.
268. Fay, P.; Brockenbrough, R. T.; Abeln, G.; Scott, P.; Agarwala, S.; Adesida, I.; Lyding, J. W. J. Appl. Phys. 1994, 75, 7545.
269. Baba, M.; Matsui, S. J. Vac. Sci. Technol. B 1994, 12, 3716.
270. Eigler, D. M.: Schweizer, E. K. Nature 1990, 344, 524.
271. Heller, E. J.; Crommie, M. F.; Lutz, C. P.; Eigler, D. M. Nature 1994, 369, 464.
272. Crommie, M. F.; Lutz, C. P.; Eigler, D. M.; Heller, E. J. Physica D 1995, 83, 98-108.
273. Crommie, M.; Lutz, C. P.; Eigler, D. M. Science 1993, 262, 218.
274. Crommie, M. F.; Lutz, C. P.; Eigler, D. M. Nature 1993, 363, 524.
275. Hasegawa, Y.; Avouris, P. Phys. Rev. Lett. 1993, 71, 1071.
276. Weiss, P. S. Private communication, 1995.
277. Feynman, R. P. Eng. Sci. 1960, 23, 22-36.
278. Wang, Y.; Bronikowski, M. J.; Hamers, R. J. Surf. Sci. 1994, 311, 64-100.
279. Higgins, S. R.; Hamers, R. J. J. Vac. Sci. Technol. B, in press.
280. Tsukada, M. Submitted for publication.