Structural transitions and electrical conductivity of C60 films at high temperature

Journal of Materials Research

Volumn 11, Issue 8, 1996, Pages 2071-2075

  Gong, Jinlong ^a   Ma, Guobin ^a   Chen, Guanghua ^a  

^a LANZHOU UNIVERSITY   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ACTIVATION ENERGY; ANNEALING; BAND STRUCTURE; CRYSTALLINE MATERIALS; ELECTRIC CONDUCTIVITY MEASUREMENT; ELECTRIC CONDUCTIVITY OF SOLIDS; FULLERENES; PHASE TRANSITIONS; THERMAL EFFECTS; X RAY DIFFRACTION ANALYSIS;

INTERCRYSTALLINE POTENTIAL BARRIER; INTERPLANAR SPACING;

SUPERCONDUCTING FILMS;

EID: 0030211612     PISSN: 08842914     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1557/JMR.1996.0260     Document Type: Article

References (24)

1. H. W. Kroto, J. R. Heath, S. C. O'Brian, R. F. Curl, and R. E. Smalley, Nature (London) 318, 162 (1985).
2. W. Krätschmer, L. D. Lamb, K. Fostiropoulos, and D. R. Huffman, Nature (London) 347, 354 (1990).
3. M. S. Dresselhaus, G. Dresselhaus, and P. C. Eklund, J. Mater. Res. 8, 2054 (1993).
4. S. P. Kelty, C. C. Chen, and C. M. Lieber, Nature (London) 352, 223 (1991).
5. P. J. Benning, J. L. Martins, J. H. Weaver, L. P. F. Chibante, and R. E. Smalley, Science 252, 1417 (1991).
6. J. H. Weaver, J. L. Martins, T. Komeda, Y. Chen, T. K. Ohno, G. H. Kroll, N. Troullier, R. E. Hauflen, and R. E. Smalley, Phys. Rev. Lett. 66, 1741 (1991).
7. J. Mort, K. Okumura, M. Machonkin, R. Ziolo, D. R. Huffman, and M. I. Ferguson, Chem. Phys. Lett. 186, 281 (1991).
8. J. Mort, R. Ziolo, M. Machonkin, D. R. Huffman, and M. I. Ferguson, Chem. Phys. Lett. 186, 284 (1991).
9. J. Mort, M. Machonkin, R. Ziolo, D. R. Huffman, and M. I. Ferguson, Appl. Phys. Lett. 60, 1735 (1992).
10. R. C. Haddon, A. F. Hebard, M. J. Rosseinsky, D. W. Marphy, S. J. Duclos, K. B. Lyons, B. Miller, J. M. Rosamilia, R. M. Fleming, A. R. Kortan, S. H. Glarum, A. V. Makhija, A. J. Muller, R. H. Eick, S. M. Zahurak, R. Tycko, G. Dabbagh, and F. A. Thid, Nature (London) 350, 320 (1991).
11. A. Hamed, Y. Y. Sun, Y. K. Tao, R. L. Meng, and P. M. Hor, Phys. Rev. B 47, 10873 (1993).
12. H. Yonehara and C. Pac, Appl. Phys. Lett. 61, 575 (1992).
13. C. Wen, J. Li, K. Kitazawa, T. Aida, I. Honma, H. Komiyama, and K. Yamada, Appl. Phys. Lett. 61, 2162 (1992).
14. R. K. Kremer, T. Rabenau, W. K. Maser, M. Kaiser. A. Simon, M. Haluška, and H. Kuzmany, Appl. Phys. A56, 211 (1993).
15. T. Aral, Y. Murasakami, H. Suematsu, K. Kikucki, Y. Achiba, and I. Ikemoto, Solid State Commun. 84, 827 (1992).
16. D. Sarkar and N. J. Halas, Appl. Phys. Lett. 63, 2438 (1993).
17. A. Hamed, H. Rasmussen, and P. H. Hor, Phys. Rev. B 48, 14760 (1993).
18. D. E. Luzzi, J. E. Fischer, X. Q. Wang, D. A. Ricketts-Foot, A. R. McGhie, and W. J. Romonow, J. Mater. Res. 7, 335 (1992).
19. Z. G. Li and P. J. Fagan, Chem. Phys. Lett. 194, 461 (1991).
20. J. Q. Li, Z. X. Zhao, Z. Z. Gan, and D. L. Yin, Appl. Phys. Lett. 59, 3108 (1991).
21. T. Kitamoto, S. Sasaki, T. Atake, T. Tanaka, H. Kawaji, K. Kikucki, K. Saito, S. Suzuki, Y. Achiba, and I. Ikemoto, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L424 (1993).
22. J. L. Bver, S. Smaolen, V. Petricek, M. Dusek, M. A. Verheijen, and G. Meijer, Chem. Phys. Lett. 219, 469 (1994).
23. R. M. Fleming, A. R. Kortan, B. Hessen, T. Siegrist, F. A. Thiel, P. Marsh, R. C. Haddon, R. Tycko, G. Dabbagh, M. L. Kaplan, and A. M. Mujsec, Phys. Rev. B 44, 888 (1991).
24. M. D. Pace, T. C. Christidis, J. J. Yin, and J. Milliken, J. Phys. Chem. 96, 6655 (1992).