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Volumn 5, Issue 2, 1996, Pages 181-186

SiO2 etching by M = O helicon plasma

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DISSOCIATION; PLASMA SOURCES; SILICA; SILICON WAFERS;

EID: 0030134271     PISSN: 09630252     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0963-0252/5/2/010     Document Type: Article
Times cited : (12)

References (16)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.