Quantitative micromagnetics at high spatial resolution using far-out-of-focus STEM electron holography

Physica Status Solidi (A) Applied Research

Volumn 154, Issue 2, 1996, Pages 469-504

  Mankos, M ^a,b   Cowley, J M ^a   Scheinfein, M R ^a  

^a ARIZONA STATE UNIVERSITY   (United States)

^b IBM T J WATSON RESEARCH CENTER   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

HOLOGRAPHY; MAGNETIC DOMAINS; MAGNETIC THIN FILMS; MAGNETIC VARIABLES MEASUREMENT; MAGNETIZATION; MICROSTRUCTURE; OPTICAL RESOLVING POWER; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY;

PHASE OBJECT APPROXIMATION; SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY (STEM);

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY;

EID: 0030122825     PISSN: 00318965     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/pssa.2211540202     Document Type: Article

References (99)

1. L. M. FALICOV, D. T. PIERCE, S. D. BADER, R. GRONSKY, K. B. HATHAWAY, H. J. HOPSTER, D. N. LAMBETH, S. S. P. PARKIN, G. PRINZ, M. SALAMON, I. K. SCHULLER, and R. H. VICTOVA, J. Mater. Res. 5, 1299 (1990).
2. F. HELLMANN and E. M. GYORGY, Phys. Rev. Letters 68, 1391 (1992).
3. V. G. HARRIS, K. D. AYLESWORTH, B. N. DAS, W. T. ELAM, and N. C. KOON, Phys. Rev. Letters 69, 1939 (1992).
4. C. LIU, E. R. MOOG, and S. D. BADER, Phys. Rev. Letters 60, 2422 (1992).
5. B. N. ENGEL, M. H. WEIDEMANN, R. A. VAN LEUWEN, and C. M. FALCO, Phys. Rev. B 48, 9894 (1993).
6. S. S. PARKIN, R. BHADRA, and K. P. ROCHE, Phys. Rev. Letters 66, 2152 (1991).
7. S. S. PARKIN, Phys. Rev. Letters 67, 3598 (1991).
8. M. R. SCHEINFEIN, J. UNGURIS, M. H. KELLEY, D. T. PIERCE, and R. J. CELOTTA, Rev. sci. Instrum. 61, 2501 (1990).
9. C. KITTEL, Rev. mod. Phys. 21, 541 (1949).
10. L. D. LANDAU and E. LIFSHITZ, Phys. Z. Sowjet. 8, 135 (1935).
11. M. R. SCHEINFEIN, J. UNGURIS, D. T. PIERCE, and R. J. CELOTTA, J. appl. Phys. 67, 5932 (1990).
12. M. ALTMANN, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 232, 125 (1991).
13. R. SCHAEFER, B. E. ARGYLE, and P. L. TROUILLOUD, IEEE Trans. Magnetics 28, 2644 (1992).
14. A. TONOMURA, Electron Holography, Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg 1993.
15. L. J. HEYDERMAN, J. N. CHAPMAN, and S. S. P. PARKIN, J. Magnetism magnetic Mater. 138, 344 (1994).
16. L. REIMER, Transmission Electron Microscopy, Springer-Verlag, Berlin 1984.
17. M. R. SCHEINFEIN, J. UNGURIS, J. L. BLUE, K. J. COAKLEY, D. T. PIERCE, R. J. CELOTTA, and P. J. RYAN, Phys. Rev. B 43, 3395 (1991).
18. M. R. SCHEINFEIN, P. J. RYAN, J. UNGURIS, D. T. PIERCE, and R. J. CELOTTA, Appl. Phys. Letters 67, 1817 (1990).
19. M. MANKOS, M. R. SCHEINFEIN, and J. M. COWLEY, J. appl. Phys. 75, 7418 (1994).
20. M. MANKOS, Z. J. YANG, M. R. SCHEINFEIN, and J. M. COWLEY, IEEE Trans. Magnetics 30, 4497 (1994).
21. M. MANKOS, P. DEHAAN, V. KAMBERSKY, G. MATTEUCCI, M. R. MCUARTNEY, Z. J. YANG, M. R. SCHEINFEIN, and J. M. COWLEY, in: Electron Holography, Delta Series, Ed. A. TONOMURA, L. ALLARD, G. POZZI, D. JOY, and Y. ONO, Elsevier Sci. Publ. B.V., 1995 (p. 329).
22. M. MANKOS, M. R. SCHEINFEIN, and J. M. COWLEY, IEEE Trans. Magnetics 31, 3796 (1995).
23. J. M. COWLEY, Appl. Phys. Letters 15, 58 (1969).
24. M. MANKOS, S.-Y. WANG, J. K. WEISS, and J. M. COWLEY, in: Proc. 50th Annu. Meet. Electron Microsc. Soc. Amer., Ed. G. W. BAILEY, J. BENTLEY, and J. A. SMALL, San Francisco Press, San Francisco 1992 (p. 102).
25. P. W. HAWKES, Magnetic Electron Lenses, Springer-Verlag, Heidelberg 1992.
26. J. M. COWLEY, Diffraction Physics, North-Holland Phys. Publ., Amsterdam 1986.
27. W. EHRENBERG and R. E. SIDAY, Proc. Phys. Soc. (London) B 62, 8 (1949).
28. Y. AHARONOV and D. BOHM, Phys. Rev. 115, 485 (1959).
29. G. MÖLLENSTEDT and H. DÜKER, Z. Phys. 145, 377 (1956).
30. M. E. HALE, H. W. FULLER, and H. RUBINSTEIN, J. appl. Phys. 30, 789 (1959).
31. Z. J. YANG and M. R. SCHEINFEIN, Appl. Phys. Letters 66, 236 (1995).
32. J. T. WINTHROP and C. R. WORTHINGTON, J. Opt. Soc. Amer. 56, 588 (1966).
33. M. S. COHEN, J. appl. Phys. 38, 4966 (1967).
34. L. REIMER, Transmission Electron Microscopy, Springer-Verlag, Berlin 1984.
35. P. SCHWELLINGER, phys. stat. sol. (a) 36, 335 (1976).
36. D. C. HOTHERSTALL, phys. stat. sol. (b) 51, 529 (1972).
37. R. H. WADE, Proc. Phys. Soc. 79, 1237 (1962).
38. N. H. DEKKERS and H. DE LANG, Optik 47, 452 (1974).
39. J. N. CHAPMAN, P. E. BATSON, E. M. WADDELL, and R. P. FERRIER, Ultramicroscopy 3, 203 (1978).
40. J. N. CHAPMAN and G. R. MORRISON, J. Magnetism magnetic Mater. 35, 254 (1983).
41. J. N. CHAPMAN, I. R. MCFADYEN, and S. MCVITIE, IEEE Trans. Magnetics 26, 1506 (1990).
42. J. M. COWLEY, Ultramicroscopy 41, 335 (1992).
43. D. GABOR, Nature 161, 777 (1948).
44. D. GABOR, Proc. Roy. Soc. A 197, 454 (1949).
45. P. HAWKES and E. KASPER, Principles of Electron Optics: Wave Optics, Academic Press, London 1994.
46. E. N. LEITH and J. UPATNIEKS, J. Opt. Soc. Amer. 52, 1123 (1962).
47. M. E. HAINE and T. MULVEY, J. Opt. Soc. Amer. 42, 763 (1952).
48. L. MARTON, Phys. Rev. 85, 1057 (1952).
49. H. LICHTE, Adv. Opt. Electron Microscopy 12, 25 (1993).
50. E. J. KIRKLAND, Ultramicroscopy 15, 151 (1984).
51. D. VAN DYCK and M. OPDEBEECK, in: Proc. 12th Internat. Congr. Electron Microscopy, Vol. 1, Ed. L. D. PEACHEY and D. B. WILLIAMS, San Francisco Press, San Francisco 1990 (p. 26).
52. A. TONOMURA, Rev. mod. Phys. 59, 639 (1987).
53. S. FRABBONI, G. MATTEUCCI, and G. POZZI, Ultramicroscopy 23, 29 (1987).
54. G. MÖLLENSTEDT and H. WAHL, Naturwissenschaften 55, 340 (1968).
55. M. NICKLAUS and F. HASSELBACH, Phys. Rev. A 48, 152 (1993).
56. F. HASSELBACH and M. NICKLAUS, Phys. Rev. A 48, 148 (1993).
57. J. C. H. SPENCE, in: Electron Diffraction Techniques, Ed. J. M. COWLEY, Oxford Sci. Publ., Oxford 1992.
58. M. MANKOS, A. A. HIGGS, M. R. SCHEINFEIN, and J. M. COWLEY, Ultramicroscopy 58, 87 (1995).
59. J. K. WEISS, W. J. DE RUIJTER, M. GAJDARDZISKA-JOSIFOVSKA, M. R. MCCARTNEY, and D. J. SMITH, Ultramicroscopy 50, 301 (1993).
60. M. R. MCCARTNEY, D. J. SMITH, and B. FROST, Appl. Phys. Letters 65, 2603 (1994).
61. X. ZHANG, D. C. JOY, Y. ZHANG, T. HASHIMOTO, L. ALLARD, and T. A. NOLAN, Ultramicroscopy 51, 21 (1993).
62. M. R. MCCARTNEY and M. GAJDARDZISKA-JOSIFOVSKA, Ultramicroscopy 53, 283 (1994).
63. R. F. EGERTON, Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope, Plenum Press, New York 1986.
64. J. M. COWLEY, Ultramicroscopy 57, 327 (1995).
65. TH. LEUTHNER, H. LICHTE, and K.-H. HERRMANN, phys. stat. sol. (a) 116, 113 (1989).
66. C. KITTEL, Phys. Rev. 70, 965 (1946).
67. M. S. BLOIS, J. appl. Phys. 26, 975 (1955).
68. H. HOFFMAN, IEEE Trans. Magnetics 4, 32 (1968).
69. D. J. CRAIK and R. S. TEBBLE, Ferromagnetism and Ferromagnetic Domains, North-Holland Publ. Co., Amsterdam 1965.
70. R. CAREY and E. D. ISAAC, Magnetic Domains and Techniques for Their Observation, Academic Press, New York/London 1966.
71. W. F. BROWN, Micromagnetics, Robert E. Krieger Publ. Co., Huntington (NY) 1978.
72. A. E. LABONTE, J. appl. Phys. 34, 2450 (1969).
73. M. R. SCHEINFEIN, J. UNGURIS, J. L. BLUE, K. J. COAKLEY, D. T. PIERCE, R. J. CELOTTA, and P. J. RYAN, Phys. Rev. B 43, 3395 (1991).
74. M. R. SCHEINFEIN, J. UNGURIS, D. T. PIERCE, and R. J. CELOTTA, J. appl. Phys. 67, 5932 (1990).
75. A. HUBERT, J. appl. Phys. 46, 2276 (1975).
76. S. SEMENOV, Phys. Metals Metallogr, 75, 578 (1993).
77. M. E. SCHABES and H. N. BETRAM, J. appl. Phys. 64, 1347 (1988).
78. M. R. SCHEINFEIN and J. L. BLUE, J. appl. Phys. 69, 7740 (1991).
79. M. N. BAIBICH, J. M. BROTO, A. FERT, F. NGUYEN VAN DAU, F. PETROFF, P. ETIENNE, G. CREUZER, A. FREDERICK, and J. CHAZELAS, Phys. Rev. Letters 61, 2472 (1988).
80. S. S. P. PARKIN, N. MORE, K. P. ROCHE, Phys. Rev. Letters 64, 2304 (1990).
81. P. GRUNBERG, J. BARNAS, E. SAURENBACH, J. A. FUSS, A. WOLF, and M. VOHL, J. Magnetism magnetic Mater. 93, 58 (1991).
82. S. S. P. PARKIN, Phys. Rev. Letters 67, 3598 (1991).
83. P. M. LEVY, S. ZHANG, and A. FERT, Phys. Rev. Letters 65, 1643 (1990).
84. S. ZHANG and P. M. LEVY, Phys. Rev. B 47, 6776 (1993).
85. F. GIRON, P. BOHER, PH. HOUDY, P. BEAUVILLAIN, C. CHAPPERT, K. LEDANG and P. VIEILLET, J. Magnetism magnetic Mater. 121, 3181 (1993).
86. P. P. FREITAG, I. G. TRINDADE, L. V. MELO, J. L. LEAL, N. BARRADAS, and J. L. SOARES, J. appl. Phys. 73, 5527 (1993).
87. M. RÜHRIG, R. SCHÄFER, A. HUBERT, R. MOSLER, J. A. WOLF, S. DEMOKRITOV, and P. GRÜNBERG, phys. stat. sol. (a) 125, 635 (1991).
88. J. UNGURIS, R. J. CELOTTA, and D. T. PIERCE, J. appl. Phys. 75, 6437 (1994).
89. J. N. CHAPMAN, L. J. HEYDERMAN, and S. S. P. PARKIN, J. appl. Phys. 76, 881 (1994).
90. F. J. A. DEN BROEDER, H. W. VAN KESTEREN, W. HOVING, and W. B. ZEPER, Appl. Phys. Letters 61, 1468 (1992).
91. Z. J. YANG and M. R. SCHEINFEIN, Appl. Phys. Letters 66, 236 (1995).
92. Z. J. YANG and M. R. SCHEINFEIN, Phys. Rev. B 52, 4263 (1995).
93. R. PLOESSL, J. N. CHAPMAN, M. R. SCHEINFEIN, J. L. BLUE, M. MANSURIPUR, and H. HOFFMAN, J. appl. Phys. 74, 7431 (1993).
94. A. AHARONI, Phys. Rev. B 45, 1030 (1992).
95. A. AHARONI, J. appl. Phys. 68, 2892 (1990).
96. J. L. DORMANN and D. FIORANI (Ed.), Magnetic Properties of Fine Particles, Elsevier Sci. Publ. B.V., Amsterdam 1992.
97. A. TASAKI, M. TAKAO, and H. TOKUNAGA, Japan. J. appl. Phys. 13, 27 (1974).
98. J. CLARKE, IEEE Trans. Electron Devices 27, 1896 (1980).
99. A. D. KENT, S. VON MOLNAR, S. GIDER, and D. D. AWSCHALOM, J. appl. Phys. 76, 6656 (1994).