Scanning probe microscopy;Rastersonden-mikroskopie: Innovationsvorteil für mittelständische unternehmen

MO Metalloberflache Beschichten von Metall und Kunststoff

Volumn 50, Issue 4, 1996, Pages 322-325

  Fries, Thomas ^a,b,c,d   Gladbach, Bergiseh ^e  

^a SAARLAND UNIVERSITY   (Germany)

^b UNIVERSITY OF BONN   (Germany)

^c Günther Systemlechnik GmbH

^d Fries Research and Technology GmbH

^e NONE

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ANALYSIS; MICROSCOPIC EXAMINATION; PROBES; SURFACES;

INNOVATION; SCANNING PROBE MICROSCOPY;

SURFACE TREATMENT;

EID: 0030122355     PISSN: 00260797     EISSN: None     Source Type: Trade Journal    
DOI: None     Document Type: Article

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