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Volumn 8, Issue 2, 1996, Pages 143-152

Fault simulation for mixed-signal systems

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AUTOMATIC TESTING; CMOS INTEGRATED CIRCUITS; COMPUTER SIMULATION; DEFECTS; DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS; ERROR DETECTION; FAILURE ANALYSIS; MATHEMATICAL MODELS;

EID: 0030121249     PISSN: 09238174     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1007/BF02341820     Document Type: Article
Times cited : (6)

References (18)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.