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Volumn 36, Issue 2, 1996, Pages 254-257

Accessibility of very low qa (VLQ) and ultra-low qa (ULQ) discharges in the SINP tokamak

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DIFFUSION IN GASES; ELECTRIC DISCHARGES; ELECTRIC FIELD EFFECTS;

EID: 0030073432     PISSN: 00295515     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0029-5515/36/2/I12     Document Type: Article
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References (13)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.