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Volumn 318, Issue 2, 1996, Pages 211-219

Trace element characterization of high purity gallium

Author keywords

Gallium; Ion exchange; Trace element characterization

Indexed keywords

GALLIUM; METAL;

EID: 0030053071     PISSN: 00032670     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/0003-2670(95)00433-5     Document Type: Article
Times cited : (7)

References (23)
  • 13
    • 85031210987 scopus 로고    scopus 로고
    • P/837 USA, Session No. 98(1), Oak Ridge National Lab., Tennesse, USA
    • K.A. Kraus and F. Nelson, P/837 USA, Session No. 98(1), Oak Ridge National Lab., Tennesse, USA.
    • Kraus, K.A.1    Nelson, F.2
  • 14
    • 85031233980 scopus 로고    scopus 로고
    • C.A, (1956) 50,8378f
    • D.L. Manning., C.A, (1956) 50,8378f.
    • Manning, D.L.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.