메뉴 건너뛰기





Volumn , Issue , 1996, Pages 444-449

BDD-based testability estimation of VHDL designs

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ALGORITHMS; CIRCUIT THEORY; COMPUTER TESTING; ESTIMATION; FAILURE ANALYSIS; LOGIC GATES; MATHEMATICAL MODELS; SPECIFICATIONS; SYSTEMS ANALYSIS;

EID: 0029747885     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
Times cited : (4)

References (23)
  • Reference 정보가 존재하지 않습니다.

* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.