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Volumn 3, Issue , 1996, Pages 1221-1224

Noise characteristics of GaAs HBT's

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EQUIVALENT CIRCUITS; SEMICONDUCTING GALLIUM ARSENIDE; SEMICONDUCTOR DEVICE MODELS; SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING; SPURIOUS SIGNAL NOISE;

EID: 0029719706     PISSN: 0149645X     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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References (4)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.