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Volumn 142, Issue 5, 1995, Pages 307-312

Analysis and modelling of parasitic substrate coupling in CMOS circuits

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ERROR ANALYSIS; INTEGRATED CIRCUIT LAYOUT; RANDOM ACCESS STORAGE; SEMICONDUCTOR DEVICE MODELS; SPURIOUS SIGNAL NOISE; SUBSTRATES; TRANSISTORS; VLSI CIRCUITS;

EID: 0029386556     PISSN: 13502409     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1049/ip-cds:19952164     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.