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Journal of X-Ray Science and Technology

Volumn 4, Issue 3, 1994, Pages 200-216

Grazing X-ray reflectometry data processing by fourier transform

(2) Bridou, F a Pardo, B b

a INSTITUT D'OPTIQUE GRADUATE SCHOOL (France)

b SORBONNE UNIVERSITÉ (France)

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CURVE FITTING; ELECTROMAGNETIC WAVE ABSORPTION; ELECTROMAGNETIC WAVE REFLECTION; FOURIER TRANSFORMS; INTERFACES (MATERIALS); PARAMETER ESTIMATION; X RAYS;

THIN LAYER STACKS; X RAY REFLECTOMETRY;

DATA PROCESSING;

EID: 0028494671 PISSN: 08953996 EISSN: None Source Type: Journal
DOI: 10.3233/XST-1993-4304 Document Type: Article

Times cited : (42)

References (15)

1
- 34547321253
- P. Croce, L. Nevot, and B. Pardo, Nouv. Rev. Opt. Appl. 3(1), 37 (1972).
- (1972) Nouv. Rev. Opt. Appl , vol.3 , Issue.1 , pp. 37
- Croce, P.¹ Nevot, L.² Pardo, B.³

2
- 0040930323
- L. Nevot, B. Pardo, and C. Corno, Analusis 16(7), 381 (1988).
- (1988) Analusis , vol.16 , Issue.7 , pp. 381
- Nevot, L.¹ Pardo, B.² Corno, C.³

3
- 0001736866
- L. Nevot, B. Pardo, and J. Corno, Rev. Phys. Appl. 23, 1675 (1988).
- (1988) Rev. Phys. Appl , vol.23 , pp. 1675
- Nevot, L.¹ Pardo, B.² Corno, J.³

4
- 0001503099
- E. Spiller, Rev. Phys. Appl. 23, 1687 (1988).
- (1988) Rev. Phys. Appl , vol.23 , pp. 1687
- Spiller, E.¹

5
- 84974768265
- La pulvérisation diode RF, l’ellipsometrie cinétique in situ, la réflectométrie d’X rasants, un ensemble performant pour la réalisation et l’analyse d’empilements de couches à l’échelle atomique
- Ph. Houdy, “La pulvérisation diode RF, l’ellipsometrie cinétique in situ, la réflectométrie d’X rasants, un ensemble performant pour la réalisation et l’analyse d’empilements de couches à l’échelle atomique,” Thèse d’habilitation à diriger des recherches, Université Paris VII, 1989.
- (1989) Thèse d’habilitation à Diriger Des Recherches, Université Paris , vol.7
- Houdy, P.H.¹

6
- 84919201355
- A new x-ray reflectometer
- J. Corno and B. Pardo, A new x-ray reflectometer, in “Proceedings, SPIE conference, San Diego, 1988,” Vol. 984, pp. 119-123.
- (1988) Proceedings, SPIE Conference, San Diego , vol.984 , pp. 119-123
- Corno, J.¹ Pardo, B.²

7
- 0001592461
- B. Pardo, T. Megademini, and J. M. Andre, Rev. Phys. Appl. 23, 1579 (1988).
- (1988) Rev. Phys. Appl , vol.23 , pp. 1579
- Pardo, B.¹ Megademini, T.² Andre, J.M.³

8
- 0347501616
- F. Bridou and B. Pardo, J. Opt. (Paris) 21(4), 183 (1990).
- (1990) J. Opt. (Paris) , vol.21 , Issue.4 , pp. 183
- Bridou, F.¹ Pardo, B.²

9
- 0018021238
- J. A. Dobrowolski and D. Lowe, Appl. Opt. 17(19), 3039 (1978).
- (1978) Appl. Opt , vol.17 , Issue.19 , pp. 3039
- Dobrowolski, J.A.¹ Lowe, D.²

10
- 36449007275
- P. L. Swart and B. M. Lacquet, J. Appl. Phys. 70(2), 1069 (1991).
- (1991) J. Appl. Phys , vol.70 , Issue.2 , pp. 1069
- Swart, P.L.¹ Lacquet, B.M.²

11
- 0038866374
- K. Sakurai and A. Iida, Adv. X-Ray Anal. 35, 813 (1992).
- (1992) Adv. X-Ray Anal , vol.35 , pp. 813
- Sakurai, K.¹ Iida, A.²

12
- 84974749574
- D. S. Sivia, W. A. Halmilton, G. S. Smith, T. P. Rieker, and R. Pynn, J. Appl. Phys. 70(2), (1991).
- (1991) J. Appl. Phys , vol.70 , Issue.2
- Sivia, D.S.¹ Halmilton, W.A.² Smith, G.S.³ Rieker, T.P.⁴ Pynn, R.⁵

13
- 0347062900
- G. P. Felcher, R. Felici, R. T. Kampwirth, and K. E. Gray, J. Appl. Phys. 57, 3789 (1985).
- (1985) J. Appl. Phys , vol.57 , pp. 3789
- Felcher, G.P.¹ Felici, R.² Kampwirth, R.T.³ Gray, K.E.⁴

14
- 84974766089
- Vibrations aléatoires et analyse spectrale
- A. Preumont, “Vibrations aléatoires et analyse spectrale,” Presses polytechniques et universitaires romandes, 1970.
- (1970) Presses Polytechniques Et Universitaires Romandes
- Preumont, A.¹

15
- 84885530161
- Digital image processing
- K. R. Casteleman, “Digital image processing,” Prentice-Hall, Englewood Cliffs, NJ, 1979.
- (1979) Prentice-Hall, Englewood Cliffs, NJ
- Casteleman, K.R.¹

* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.