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Volumn 8, Issue 4, 1993, Pages 1921-1925

Application of a New Arc Model for the Evaluation of Short-Circuit Breaking Tests

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ELECTRIC ARCS; ELECTRIC FAULT CURRENTS; ELECTRIC VARIABLES MEASUREMENT; MATHEMATICAL MODELS; SHORT CIRCUIT CURRENTS;

EID: 0027681442     PISSN: 08858977     EISSN: 19374208     Source Type: Journal    
DOI: 10.1109/61.248303     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.