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Volumn 2, Issue 2, 1993, Pages 87-110

Chromatic modulation based metrology

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CHROMATIC MODULATION; INDUSTRIAL OPTICAL SENSORS; WAVELENGTH MONITORS;

EID: 0027556002     PISSN: 09639659     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0963-9659/2/2/003     Document Type: Article
Times cited : (34)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.