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Volumn , Issue , 1991, Pages 371-376

T-gate process and delay time analysis for sub-1/4-μm-gate InAlAs/InGaAs HEMT's

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ELECTRON BEAMS; SEMICONDUCTING INDIUM COMPOUNDS;

EID: 0026404066     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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References (9)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.