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Volumn , Issue , 1991, Pages 205-208

Micromechanical structures for thin film characterization

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ELECTROMECHANICAL DEVICES - MICROELECTROMECHANICAL; SEMICONDUCTING SILICON - CHEMICAL VAPOR DEPOSITION; VIBRATIONS - ANALYSIS;

EID: 0026382037     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.