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Volumn , Issue 350, 1991, Pages 6-9

Application of finite element methods to the modelling of field ingress to structures

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ELECTROMAGNETIC FIELDS--ANALYSIS;

EID: 0026370442     PISSN: 05379989     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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References (1)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.