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Volumn , Issue , 1991, Pages 378-384

A data path synthesis method for self-testable designs

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INTEGRATED CIRCUITS, DIGITAL--TESTING; MATHEMATICAL TECHNIQUES--ALGORITHMS;

EID: 0026175207     PISSN: 01467123     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1145/127601.127698     Document Type: Conference Paper
Times cited : (53)

References (25)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.