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Volumn 60, Issue 4, 1991, Pages 777-785

Electrostatic interaction in atomic force microscopy

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ARTICLE; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; MICROSCOPY; PRIORITY JOURNAL;

EID: 0026038548     PISSN: 00063495     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0006-3495(91)82112-9     Document Type: Article
Times cited : (207)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.