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Volumn , Issue , 1990, Pages 374-381

On the design of path delay fault testable combinational circuits

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LOGIC CIRCUITS--SYNTHESIS;

EID: 0025658543     PISSN: 07313071     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
Times cited : (48)

References (25)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.