Structure and crystallization of zinc and germanium oxynitrides determined by neutron diffraction

Materials Chemistry and Physics

Volumn 21, Issue 3, 1989, Pages 223-235

  Bacher, P ^a   Roult, G ^a   Ghers, M ^b   Merdrignac, O ^b   Guyader, J ^b   Laurent, Y ^b  

^a DRF Service de Physique Groupe Structure ^*  (France)

^b Lab Chim Mat Inorg/de Cristal   (France)

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AMMONIA--SENSORS; CRYSTALS--STRUCTURE; NEUTRONS--DIFFRACTION; SEMICONDUCTING GERMANIUM COMPOUNDS; SEMICONDUCTING ZINC COMPOUNDS;

STRUCTURAL MODELS; TIME-OF-FLIGHT METHOD; WURTZITE-TYPE UNIT CELL; ZINC GERMANIUM OXYNITRIDES;

SEMICONDUCTOR MATERIALS;

EID: 0024621861     PISSN: 02540584     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/0254-0584(89)90117-X     Document Type: Article

References (13)

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4. Structure à antiphases périodiques de l'oxynitrure d'aluminium δ1non-stoechiométrique de composition 9Al2O3–AlN
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