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Volumn 73, Issue 11-12, 1988, Pages 1449-1456

Sputter depth profiling in mineral-surface analysis

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ATOMIC CONCENTRATIONS; COMPOSITIONAL GRADIENT; ION BOMBARDMENT; SPUTTER DEPTH PROFILES;

EID: 0024195122     PISSN: 0003004X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.