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Volumn , Issue , 1988, Pages

EOR screening with an expert system

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ARTIFICIAL INTELLIGENCE--EXPERT SYSTEMS; COMPUTERS, MICROCOMPUTER--INDUSTRIAL APPLICATIONS;

EID: 0024177885     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.2118/17791-ms     Document Type: Conference Paper
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References (31)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.