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Volumn , Issue , 1988, Pages 279-288

On-chip double-bit error-correcting code for three-dimensional dynamic random-access memory

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DATA STORAGE, DIGITAL--RANDOM ACCESS; SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING;

EID: 0024121998     PISSN: 07431686     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
Times cited : (5)

References (24)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.