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Volumn NS-34, Issue 6, 1987, Pages

ON HEAVY ION INDUCED HARD-ERRORS IN DIELECTRIC STRUCTURES.

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ION BEAMS - APPLICATIONS; SEMICONDUCTOR DEVICES - FAILURE;

EID: 0023562592     PISSN: 00189499     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
Times cited : (39)

References (6)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.