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Volumn R-35, Issue 5, 1986, Pages 532-538

OPEN AND SHORT CIRCUIT RELIABILITY OF SYSTEMS OF IDENTICAL ITEMS.

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CONTROL SYSTEMS; FAILURE ANALYSIS; PROBABILITY; SYSTEMS ANALYSIS;

EID: 0022921337     PISSN: 00189529     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1109/tr.1986.4335539     Document Type: Article
Times cited : (30)

References (8)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.