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Volumn 248, Issue 2-3, 1986, Pages 367-378

Progress in semiconductor drift detectors

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PARTICLE DETECTORS - TESTING;

EID: 0022767733     PISSN: 01689002     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/0168-9002(86)91021-1     Document Type: Article
Times cited : (87)

References (9)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.